[发明专利]半导体集成电路、信息处理设备和方法、以及程序

权利要求书

1.一种半导体集成电路，包括：

多个触发器，所述触发器被连接到被设置为集成电路的测试路径的扫描链；以及

数据收集部分，其通过所述扫描链或独立的连接路径获取连接到所述扫描链的所述多个触发器的设置值，

其中所述数据收集部分获取已对所述多个触发器通电时的触发器的设置值，并基于所获取的值执行随机数或随机数产生数据或固定数据的产生处理。

2.根据权利要求1所述的半导体集成电路，还包括控制部分，所述控制部分执行对用于通过所述扫描链进行扫描测试的扫描测试模式和用于通过所述扫描链进行数据收集的数据收集模式的切换的控制，

其中根据所述控制部分中到所述数据收集模式的切换，所述数据收集部分获取所述触发器的设置值。

3.根据权利要求2所述的半导体集成电路，

其中所述控制部分具有能够先向连接到所述扫描链的所述多个触发器供电的配置，并且对所述多个触发器的通电处理在所述控制部分的控制下进行。

4.根据权利要求1所述的半导体集成电路，

其中所述数据收集部分通过从通电时所述多个触发器的设置值中选择与特定触发器对应的设置值来产生所述固定数据。

5.根据权利要求4所述的半导体集成电路，

其中所述数据收集部分产生或保持触发器确定数据，所述触发器确定数据区分在通电时保持固定的设置值的固定值设置触发器和在通电时保持不确定的设置值的不确定值设置触发器，并且

通过应用所述触发器确定数据，所述数据收集部分从通电时所述多个触发器的设置值中只选择性地获取固定值设置触发器的设置值，并从所获取的数据产生所述固定数据。

6.根据权利要求4或5所述的半导体集成电路，

其中所述数据收集部分产生作为对应于所述半导体集成电路的识别信息(ID)的所述固定数据。

7.根据权利要求1至6中任意一项所述的半导体集成电路，

其中所述数据收集部分执行向包括在所述半导体集成电路中的所述数据处理部分提供通过获取所述触发器的设置值而产生的值的处理。

8.一种包括根据权利要求1至7中任意一项所述的半导体集成电路的信息处理设备。

9.一种在所述信息处理设备中处理信息的方法，所述方法包含以下步骤：

数据收集部分通过扫描链或独立的连接路径获取被连接到所述扫描链的多个触发器在通电时的设置值，所述扫描链被设置为集成电路的测试路径；以及

基于所获取的包括已对所述多个触发器通电时的触发器的设置值的值，所述数据收集部分执行随机数或随机数产生数据或固定数据的产生处理。

10.一种用于在信息处理设备中进行信息处理的程序，所述程序包含以下步骤：

数据收集部分通过扫描链或独立的连接路径获取被连接到所述扫描链的多个触发器在通电时的设置值，所述扫描链被设置为集成电路的测试路径；以及

基于所获取的包括已对所述多个触发器通电时的触发器的设置值的值，所述数据收集部分执行随机数或随机数产生数据或固定数据的产生处理。