[发明专利]触控检测方法及具有内嵌式触控面板的平面显示器有效
申请号: | 201010194518.5 | 申请日: | 2010-05-28 |
公开(公告)号: | CN101859039A | 公开(公告)日: | 2010-10-13 |
发明(设计)人: | 李秉寰;许育民;郑咏泽 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/133 | 分类号: | G02F1/133;G06F3/044 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 姜燕;邢雪红 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 方法 具有 内嵌式触控 面板 平面 显示器 | ||
1.一种触控检测方法,应用于一具有内嵌式触控面板的平面显示器,该平面显示器包括多条栅极线、多条数据线、多个感测单元以及多条读取线,所述多条栅极线与所述多条数据线相互交叉设置从而将该平面显示器划分为多个像素区域,所述多个感测单元设置于某些像素区域中,且每一所述感测单元分别电性耦接于一对应栅极线以及一对应读取线以通过该对应栅极线中的栅极信号驱动每一所述感测单元,且通过该对应读取线而电性耦接至一读取单元,该触控检测方法包括:
在驱动所述多个感测单元之一的该对应栅极线的前一条与前两条栅极线之间的时段内使能一取样信号,该读取单元于该取样信号使能时所对应的一取样时段取样该对应读取线中的一读取信号;
利用该读取单元于该取样时段所取样的该读取信号作为一取样参考信号;
在驱动所述多个感测单元之一的该对应栅极线与后一条栅极线之间的时段内使能一感测读取信号,该读取单元于该感测读取信号使能时所对应的一感测读取时段读取该对应读取线中的该读取信号;
利用该读取单元于该感测读取时段所读取的该读取信号作为一感测信号;以及
依据该取样参考信号与该感测信号而判断出该感测单元是否被触摸。
2.如权利要求1所述的触控检测方法,其中该读取单元包括:
一运算放大器,其包括:
一正向输入端,电性耦接于一参考电压;
一负向输入端,电性耦接于该对应读取线;以及
一输出端,用以输出该取样参考信号或者该感测信号;
一第一电容,并联于该运算放大器的该负向输入端与该输出端之间;
一第一开关,并联于该第一电容及该运算放大器的该负向输入端与该输出端之间;
一第二开关,电性耦接于该运算放大器的该输出端;
一第二电容,电性耦接于该第二开关与地之间以于该第二开关导通时接收并储存该取样参考信号;
一第三开关,电性耦接于该运算放大器的该输出端;
一第三电容,电性耦接于该第三开关与地之间以于该第三开关导通时接收并储存该感测信号;以及
一处理器,分别电性耦接于该第二电容及该第三电容以依据该取样参考信号及该感测信号而判断该感测单元是否被触摸。
3.如权利要求2所述的触控检测方法,其中该平面显示器中的每四条栅极线分成一个组,且所述多个感测单元分别电性耦接于每组栅极线中的第三条栅极线。
4.如权利要求3所述的触控检测方法,其中在利用该读取单元于该感测读取时段所读取的该读取信号作为该感测信号时,该第一开关不导通。
5.如权利要求4所述的触控检测方法,其中在利用该读取单元于该取样时段所取样的该读取信号作为该取样参考信号时,该第一开关导通。
6.如权利要求4所述的触控检测方法,其中在利用该读取单元于该取样时段所取样的该读取信号作为该取样参考信号时,该第一开关不导通。
7.如权利要求4所述的触控检测方法,其中第一组栅极线所对应的所述多个感测单元,在利用该读取单元于该取样时段所取样的该读取信号作为该取样参考信号时,该第一开关导通,而其余组栅极线所对应的所述多个感测单元,在利用该读取单元于该取样时段所取样的该读取信号作为该取样参考信号时,该第一开关不导通。
8.一种具有内嵌式触控面板的平面显示器,包括:
多条栅极线;
多条数据线,与所述多条栅极线相互交叉设置从而将该平面显示器划分成多个像素区域;
多条读取线;
多个感测单元,设置于某些像素区域中,且每一所述感测单元分别电性耦接于一对应栅极线以及一对应读取线以通过该对应栅极线中的栅极信号驱动该感测单元;以及
多个读取单元,分别通过所述多条读取线而电性耦接至所述多个感测单元;
其中,在进行触控检测时,在驱动所述多个感测单元之一的该对应栅极线的前一条与前两条栅极线之间的时段内使能一取样信号,该读取单元于该取样信号使能时所对应的一取样时段取样该对应读取线以取得一取样参考信号;在驱动所述多个感测单元之一的该对应栅极线与后一条栅极线之间的时段内使能一感测读取信号,该对应的读取单元于该感测读取信号使能时所对应的一感测读取时段取样该对应读取线以取得一感测信号,之后并依据该取样参考信号与该感测信号而判断该感测单元是否被触摸。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于友达光电股份有限公司,未经友达光电股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010194518.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。