[发明专利]Cu-Ga合金、溅射靶、Cu-Ga合金的制造方法以及溅射靶的制造方法无效

专利信息
申请号: 201010198841.X 申请日: 2010-06-04
公开(公告)号: CN101906552A 公开(公告)日: 2010-12-08
发明(设计)人: 平本雄一;外木达也 申请(专利权)人: 日立电线株式会社
主分类号: C22C9/00 分类号: C22C9/00;C22C28/00;C22C1/02;C23C14/14;C23C14/34
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 钟晶
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: cu ga 合金 溅射 制造 方法 以及
【权利要求书】:

1.一种Cu-Ga合金,其由多个相构成;

所述Cu-Ga合金中含有重量百分比至少为40%且至多为60%的镓,剩余部分由铜和无法避免的杂质组成;

其中,所述的多个相中包括含有重量百分比至少为80%的镓的偏析相,并且所述的偏析相体积占所述Cu-Ga合金的总体积的比率不超过1%。

2.权利要求1所述的Cu-Ga合金,其中,所述的多个相中含有包括重量百分比至少为40%且至多为60%的镓的微粒,所述的微粒的直径至少为0.1μm且至多为30μm,所述微粒的体积占所述Cu-Ga合金的总体积的比率不低于90%。

3.一种Cu-Ga合金,其由多个相构成;

所述Cu-Ga合金中含有重量百分比至少为40%且至多为60%的镓,剩余部分由铜和无法避免的杂质组成;

其中,所述的多个相中包括含有铜和镓的合金的γ3相和ε相,并且

所述的γ3相和ε相的总体积占所述Cu-Ga合金的总体积的比率不低于99%。

4.权利要求3所述的Cu-Ga合金,其中,所述的γ3相含有直径至少为0.1μm且至多为30μm的微粒,所述γ3相的体积占所述Cu-Ga合金的总体积的比率不低于90%。

5.一种含有权利要求1所述的Cu-Ga合金的溅射靶。

6.一种制造Cu-Ga合金的方法,包括:

将含有重量百分比至少为40%且至多为60%镓以及由铜和无法避免的杂质组成的剩余部分的混合物加热熔融;以及

将所述的熔融混合物冷却至254℃以凝固成微粒,所述的微粒含有重量百分比至少为40%且至多为60%的镓,且直径为至少0.1μm且至多30μm,以使得所述微粒的体积占所述Cu-Ga合金的总体积的比率不低于90%。

7.权利要求6所述的方法,其进一步包括:

冷却后,在至少为200℃且至多为254℃的温度下进行至少8小时的热处理。

8.权利要求7所述的方法,其中,所述的冷却包括在20℃/秒的冷却速度下,将熔融混合物冷却至254℃。

9.权利要求8所述的方法,其中,所述的熔融包括将放在水冷模或坩埚中的混合物熔融,所述的冷却包括将水冷模或坩埚直接进行冷却。

10.一种制造溅射靶的方法,其包括:

将根据权利要求6所述的方法制得的Cu-Ga合金,形成具有预定形状的溅射靶。

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