[发明专利]Cu-Ga合金、溅射靶、Cu-Ga合金的制造方法以及溅射靶的制造方法无效
申请号: | 201010198841.X | 申请日: | 2010-06-04 |
公开(公告)号: | CN101906552A | 公开(公告)日: | 2010-12-08 |
发明(设计)人: | 平本雄一;外木达也 | 申请(专利权)人: | 日立电线株式会社 |
主分类号: | C22C9/00 | 分类号: | C22C9/00;C22C28/00;C22C1/02;C23C14/14;C23C14/34 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 钟晶 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | cu ga 合金 溅射 制造 方法 以及 | ||
1.一种Cu-Ga合金,其由多个相构成;
所述Cu-Ga合金中含有重量百分比至少为40%且至多为60%的镓,剩余部分由铜和无法避免的杂质组成;
其中,所述的多个相中包括含有重量百分比至少为80%的镓的偏析相,并且所述的偏析相体积占所述Cu-Ga合金的总体积的比率不超过1%。
2.权利要求1所述的Cu-Ga合金,其中,所述的多个相中含有包括重量百分比至少为40%且至多为60%的镓的微粒,所述的微粒的直径至少为0.1μm且至多为30μm,所述微粒的体积占所述Cu-Ga合金的总体积的比率不低于90%。
3.一种Cu-Ga合金,其由多个相构成;
所述Cu-Ga合金中含有重量百分比至少为40%且至多为60%的镓,剩余部分由铜和无法避免的杂质组成;
其中,所述的多个相中包括含有铜和镓的合金的γ3相和ε相,并且
所述的γ3相和ε相的总体积占所述Cu-Ga合金的总体积的比率不低于99%。
4.权利要求3所述的Cu-Ga合金,其中,所述的γ3相含有直径至少为0.1μm且至多为30μm的微粒,所述γ3相的体积占所述Cu-Ga合金的总体积的比率不低于90%。
5.一种含有权利要求1所述的Cu-Ga合金的溅射靶。
6.一种制造Cu-Ga合金的方法,包括:
将含有重量百分比至少为40%且至多为60%镓以及由铜和无法避免的杂质组成的剩余部分的混合物加热熔融;以及
将所述的熔融混合物冷却至254℃以凝固成微粒,所述的微粒含有重量百分比至少为40%且至多为60%的镓,且直径为至少0.1μm且至多30μm,以使得所述微粒的体积占所述Cu-Ga合金的总体积的比率不低于90%。
7.权利要求6所述的方法,其进一步包括:
冷却后,在至少为200℃且至多为254℃的温度下进行至少8小时的热处理。
8.权利要求7所述的方法,其中,所述的冷却包括在20℃/秒的冷却速度下,将熔融混合物冷却至254℃。
9.权利要求8所述的方法,其中,所述的熔融包括将放在水冷模或坩埚中的混合物熔融,所述的冷却包括将水冷模或坩埚直接进行冷却。
10.一种制造溅射靶的方法,其包括:
将根据权利要求6所述的方法制得的Cu-Ga合金,形成具有预定形状的溅射靶。
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