[发明专利]Cu-Ga合金、溅射靶、Cu-Ga合金的制造方法以及溅射靶的制造方法无效

专利信息
申请号: 201010198841.X 申请日: 2010-06-04
公开(公告)号: CN101906552A 公开(公告)日: 2010-12-08
发明(设计)人: 平本雄一;外木达也 申请(专利权)人: 日立电线株式会社
主分类号: C22C9/00 分类号: C22C9/00;C22C28/00;C22C1/02;C23C14/14;C23C14/34
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 钟晶
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: cu ga 合金 溅射 制造 方法 以及
【说明书】:

本申请以于2009年6月4日提交的日本专利申请2009-134675为基础,将其引入本文作为参考

技术领域

本发明涉及Cu-Ga合金、溅射靶、Cu-Ga合金的制造方法以及溅射靶的制造方法。特别涉及应用于太阳能电池的Cu-Ga合金、溅射靶、Cu-Ga合金的制造方法以及溅射靶的制造方法。

背景技术

已为人所知的Cu-Ga二元系合金溅射靶包括:含有质量百分比为30%-60%的Ga和由Cu组成的剩余部分的组分;包括高Ga含量的Cu-Ga二元系合金微粒(由质量百分比超过30%的Ga和由Cu组成的剩余部分构成)被晶界相(包括含有质量百分比15%或其以下的Ga的低Ga含量的Cu-Ga二元系合金)所包围的双相共存组织(例如可参见JP-A-2008-138232)。

JP-A-2008-138232所公开的这种组成的Cu-Ga二元系合金溅射靶可以很好的成品率进行制造,其中,所述的溅射靶用于形成太阳能电池中的含有Cu-In-Ga-Se四元合金膜的光吸收层。

在JP-A-2008-138232中所公开的Cu-Ga二元系合金溅射靶通过原料粉末的烧结来进行制造。因此,难于使得到的溅射靶组织致密化,并且在溅射中可能出现诸如异常放电这样的问题。而且,当含有重量百分比为45%-60%的Ga的Cu-Ga二元系合金熔化烧结时,可能会出现含有重量百分比70%或其以上的Ga的偏析相。如果使用包含偏析相的溅射靶,偏析相可能会在溅射中被热所熔化。

发明内容

本发明的一个目的是提供一种具有致密的组织并减少了偏析相的Cu-Ga合金、溅射靶、Cu-Ga合金的制造方法以及溅射靶的制造方法。

(1)根据本发明的一个实施方式,一种Cu-Ga合金,其由多个相构成;所述Cu-Ga合金中含有重量百分比至少为40%、至多为60%的镓(Ga),剩余部分由铜和无法避免的杂质组成;其中,所述的多个相中包括含有重量百分比至少80%的镓(Ga)的偏析相,并且,所述偏析相的体积占Cu-Ga合金总体积的比率不超过1%。

在上述实施方式(1)中,可以做出如下的变形和变化:

(i)所述的多个相中包括含有重量百分比至少为40%、至多为60%的镓(Ga)的微粒,所述的微粒具有至少为0.1μm、至多为30μm的直径,所述微粒的体积占所述Cu-Ga合金总体积的比率不低于90%。

(2)根据本发明另一个实施方式,一种Cu-Ga合金,其由多个相构成;所述Cu-Ga合金中含有重量百分比至少为40%、至多为60%的镓(Ga),剩余部分由铜和无法避免的杂质组成;其中,所述的多个相中包括含有铜和镓(Ga)的合金的γ3相和ε相,并且γ3相和ε相的总体积占Cu-Ga合金总体积的比率不低于99%。

在上述实施方式(2)中,可以做出如下的改进和变化:

(ii)所述的γ3相含有直径至少为0.1μm、至多为30μm的微粒,所述γ3相的体积占Cu-Ga合金总体积的比率不低于90%。

(3)根据本发明的又一个实施方式,一种包括按照实施方式(1)或(2)的Cu-Ga合金的溅射靶。

(4)根据本发明的再一个实施方式,一种制造Cu-Ga合金的方法,包括:

将含有重量百分比至少40%至多60%的镓(Ga)、由铜和无法避免的杂质组成的剩余部分的混合物加热熔融;以及

将所述的熔融混合物冷却至254℃使微粒凝固,这样,所述微粒的体积占Cu-Ga合金的总体积的比率不低于90%,所述的微粒含有重量百分比至少40%、至多60%的镓(Ga),且其直径至少为0.1μm、至多为30μm。

在上述的实施方式(4)中,可以做出如下的改进和变化:

(iii)所述的方法进一步包括:

冷却后,在至少为200℃至多为254℃的温度下进行至少8小时的热处理。

(iv)所述的冷却包括以20℃/秒的冷却速度,将熔融混合物冷却至254℃。

(v)所述的熔融包括将放在水冷模或坩埚中的混合物熔融,所述的冷却包括将水冷模或坩埚直接进行冷却。

(5)根据本发明再一个实施方式,一种制造所述的溅射靶的方法,包括:

将根据实施方式(4)的方法制得的Cu-Ga合金形成具有预定形状的溅射靶。

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