[发明专利]具有动态箔张力的冷箔转印

权利要求书

1.用于将转印层从转印箔至少部分地传递到承印物上的方法，其中，转印箔和承印物被共同地引导穿过转印间隙并且转印层在压力作用下从转印箔的载体层脱落并且被传递到承印物上，

转印箔从储卷辊上退卷并且通过至少一个第一调节元件在转印箔的运动方向上在该转印间隙前面被向着该转印间隙引导和/或通过至少一个第二调节元件在转印箔的运动方向上在该转印间隙后面被输送离开该转印间隙，其中，所述第一调节元件基本上跟随一个预给定的运动曲线并且主动地这样作用于转印箔，使得至少暂时改变该转印箔的前进速度和/或所述第二调节元件与带运动相关地被调节，

其特征在于，

包括调整回路(301，403)的调整系统(300，400)作用于第一和/或第二调节元件(12，13)的运动曲线，

将第一过程参量(z^*)映射在所述调整回路(301，403)之中，

所述第一过程参量(z^*)与通过转印箔(2)作用于第一和/或第二调节元件(12，13)的力(K，F₃)有关或者与所述调节元件(12，13)的真实的实际运动曲线有关，并且

根据所述第一过程参量(z^*)计算用于带张力的量度和/或通过所述调整系统(300，400)至少限制带张力的幅度，

2.根据权利要求1所述的方法，

其特征在于，

所述调整回路(301，403)的第一干扰参量(z)与带张力有关、至少与所述转印箔(2)的带张力的变化有关，

根据所述干扰参量(z)计算过程参量(z^*)，并且

由所述第一过程参量(z^*)导出一个评价参量，该评价参量是用于转印箔(2)的带张力的量度。

3.根据权利要求1和2中任一项所述的方法，

其特征在于，

根据所述第一过程参量(z^*)确定用于带张力的量度，

确定所述带张力的动态和/或静态分量，并且所述确定基本上在不用传感器的情况下进行。

4.根据权利要求2或者3所述的方法，

其特征在于，

将用于所述调节元件(12，13)的运动曲线的额定值预给定到所述调整系统(300，400)中，

由所述第一过程参量(z^*)导出一个评价参量，该评价参量是至少用于带张力的动态分量的量度，

将所述评价参量与比较参量(w)进行比较并且根据比较结果对额定值(w′)和/或该额定值的变化进行适配。

5.根据权利要求4所述的方法，

其特征在于，

由观测器(312)求得所述第一过程参量的估算值，将所述观测器的估算值进一步供应给用于应用至少一个滤波函数和/或传递函数的滤波机构以确定一修改后的额定值(w′)并且以改变所述第一调节元件的运动曲线的方式得出修改后的额定值(w′)，从而使得带张力不超过一个预给定的极限值。