[发明专利]利用直流磁控溅射制备高阻透明ZnO薄膜的方法有效
申请号: | 201010217128.5 | 申请日: | 2010-06-30 |
公开(公告)号: | CN102312191A | 公开(公告)日: | 2012-01-11 |
发明(设计)人: | 黄富强;万冬云;汪宙 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
主分类号: | C23C14/08 | 分类号: | C23C14/08;C23C14/35 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 直流 磁控溅射 制备 透明 zno 薄膜 方法 | ||
1.一种利用直流磁控溅射制备高阻透明ZnO薄膜的方法,其特征在于:
(1)利用富锌或缺氧的ZnO基靶材,以普通玻璃、石英玻璃或有机柔性材料为衬底,控制本底真空度为1.0×10-4-3.0×10-4Pa;
(2)以惰性气体和氧气的混合气体为工作气体,通过控制磁控溅射的功率、时间、工作气体的压力以及靶材与衬底间的距离,制备出n型高阻透明的ZnO薄膜以替代传统的射频磁控溅射的工艺;
所述的富锌或缺氧的ZnO基靶材的结构式为Zn1+xO或ZnO1-x,式中0.05<X≤0.2;
所述的工作气体中氧气占总气量的体积百分比为大于0-1.5%;
所述的靶材与衬底间的距离为5-10cm;
所述的磁控溅射的功率为40-120w。
2.按权利要求1所述的方法,其特征在于所述的惰性气体为高纯氩,氩气的体积百分数为≥99.9%。
3.按权利要求1所述的方法,其特征在于溅射沉积时间为2-15min。
4.按权利要求1所述的方法,其特征在于靶材与衬底间的距离为7-8cm。
5.按权利要求1所述的方法,其特征在于工作气体的压强为0.5-3Pa。
6.按权利要求1所述的方法,其特征在于所述的溅射功率为70-80W。
7.按权利要求1、4或6所述的方法,其特征在于制备的n型高阻氧化锌薄膜的电阻率为104-108Ω·cm。
8.按权利要求1、4或6所述的方法,其特征在于制备的n型高阻氧化锌薄膜的厚度为60-80nm,且在(002)晶向择优生长。
9.按权利要求1所述的方法,其特征在于:
(1)利用直流溅射法制备的高阻ZnO薄膜具有与射频溅射制备的高阻ZnO薄膜相当的表面粗糙度;
(2)利用直流溅射法制备的高阻ZnO薄膜在可见光至近红外区域平均透过率均大于或接近90%。
10.按权利要求1所述的方法,其特征在于制备的高阻氧化锌薄膜符合CIGS薄膜太阳能电池窗口层和扩散阻挡层的要求。
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