[发明专利]利用直流磁控溅射制备高阻透明ZnO薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 201010217128.5 申请日: 2010-06-30
公开(公告)号: CN102312191A 公开(公告)日: 2012-01-11
发明(设计)人: 黄富强;万冬云;汪宙 申请(专利权)人: 中国科学院上海硅酸盐研究所
主分类号: C23C14/08 分类号: C23C14/08;C23C14/35
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地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 利用 直流 磁控溅射 制备 透明 zno 薄膜 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种利用直流磁控溅射制备高阻透明ZnO基薄膜的制备方法。属于透明导电薄膜材料(TCM)技术领域。

背景技术

高阻透明ZnO薄膜在透明电子学和新型光电器件领域有着广泛的应用前景,在薄膜太阳能电池及光电器件中,电阻在一定范围内可控、高透过率的ZnO薄膜可作为窗口层和扩散阻挡层,更是可显著地提高薄膜电池的均匀性和稳定性。在非晶硅、微晶硅及CdTe薄膜太阳能电池中,在背电极和N型光吸收层之间沉积一薄层高阻透明ZnO薄膜,可作为扩散阻挡层[(1)A.V.Shah,H.Schade,et al.Progress in Photovoltaics:Research and Applications,12(2004)113;(2)B.Rech,B.Wieder,C.Beneking,et al.26th IEEE PVSpecialists Conf[C],1997:619-622],一方面可以防止电极原子和光吸收层原子在界面处的相互扩散,另一方面可降低窗口层电极的厚度,从而提高透过率,还可有效地降低电池的暗电流,提高其并联电阻,提高开路电压。铜铟镓硒(CIGS)太阳电池窗口层ZnO薄膜是由高阻ZnO(本征ZnO或i-ZnO)和低阻ZnO(ZnO:Al或n-ZnO)构成,高阻i-ZnO层在CIGS太阳电池中主要有两个作用,一是降低电池的内部短路,薄膜铜铟镓硒太阳能电池由于前后电极间欧姆接触导致电流损耗,高阻氧化锌层可以消除因表面空洞或表面损坏造成的前后电极短路;另一个作用就是使能带的带边更加匹配。

高阻透明ZnO对电池效率的提高具有重要的作用。以薄膜铜铟镓硒太阳能电池为例,Karin Ottosson详细的研究i-ZnO对CIGS电池性能的影响[(3)K.Ottosson,UPTEC F06 001,Examensarbete 20p,April 2006]。发现溅射70~100nm的i-ZnO层,可有效地消除电池器件容易出现的短路现象,可以提高电池的效率约2%,主要是提高了电池的开路电压和填充因子。由于i-ZnO层对光的吸收所产生的热载流子对电池电流没有贡献(从电池的量子效率曲线可知,因此,应该尽量减少i-ZnO层对光的吸收。同时i-ZnO层应具有合适电阻率,电阻率过低,电池内部短路的几率就大,电池的性能就会下降;但电阻率过高会导致电子隧穿的势垒过高,使电池内阻过高,光电转换效率下降。一般来说,高阻i-ZnO层的电阻率应在104~108Ω·cm的范围内,透过率应在90%左右,厚度应在60~120nm之间比较合适。

目前制备高阻透明ZnO薄膜的方法有很多:磁控溅射、脉冲光沉积(PLD)、原子层外延(ALE)、金属有机物气相外延(MOCVD)、分子束外延(MBE)等[(4)Y.J.Kim,C.H.Lee,et al.Appl.Phys.Lett.89(2006)163128;(5)X.N.Li,A.E.Sally,et al.J.Vac.Sci.Technol.A 24(2006)1213;(6)S.W.Kim,S.Z.Fujita,et al.Appl.Phys.Lett.88(2006)253114],其中溅射沉积是制备ZnO薄膜最广泛的应用技术之一。对于常用的磁控溅射法,一般采用本征ZnO陶瓷靶材,由于本征ZnO为宽禁带半导体(3.3eV),商用陶瓷靶材导电性很差且基本上接近绝缘状态,因而传统制备方法均采用射频磁控溅射法[(7)J.Ch.Lee,K.H.Kang,etc.Solar Energy Materials & Solar Cells 64(2000)185]。而对于工业界说来,由于射频电源价格昂贵而难以大规模得以使用。相对而言,在规模化工业生产中,直流电源平台具有较高的的工艺一致性和控制功能,单就窗口层材料而言,若高阻ZnO(i-ZnO)和低阻窗口电极都能采用直流磁控溅射,则不仅可以降低成本,还可大大减少工艺变化,进而提高产量。然而,如前面所述,普通商用ZnO陶瓷靶材因其极高的电阻,使用直流电源几乎无法起辉,因而难以使用直流磁控溅射技术。

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