[发明专利]用于拉伸的吹塑薄膜的厚度调节方法有效
申请号: | 201010223355.9 | 申请日: | 2010-07-12 |
公开(公告)号: | CN101954734A | 公开(公告)日: | 2011-01-26 |
发明(设计)人: | B·拜尔;L·克利梅克;H·尼迈尔 | 申请(专利权)人: | 霍索卡瓦阿尔彼股份公司 |
主分类号: | B29C47/92 | 分类号: | B29C47/92;B29C55/28 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 沈英莹 |
地址: | 德国奥*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 拉伸 薄膜 厚度 调节 方法 | ||
1.用于调节拉伸的管状薄膜(6)的薄膜厚度的方法,所述管状薄膜以吹塑法制造,并且所述管状薄膜在一个换向式的回转输出装置(9)中被折扁平、重新定位并且紧接着在一个拉伸装置(2)中沿机器方向单轴地拉伸,其特征在于,这样地调节在薄膜吹塑装置(1)中制成的管状薄膜(6)的薄膜厚度断面,使得通过拉伸制造一具有在整个薄膜宽度上与平均薄膜厚度的偏差尽可能小的厚度横断面的薄膜。
2.按照权利要求1所述用于调节薄膜厚度的方法,其特征在于,借助于一个薄膜厚度断面调节系统在圆周上将挤出的管状薄膜(6)调节到一个预定的额定厚度断面。
3.按照上述权利要求之一项或多项所述用于调节薄膜厚度的方法,其特征在于,预定的额定厚度断面具有与统一的薄膜厚度的偏差,该偏差用于补偿沿薄膜宽度的薄膜厚度变化,所述薄膜厚度变化在紧接着的沿机器方向单轴的拉伸时产生。
4.按照上述权利要求之一项或多项所述用于调节薄膜厚度的方法,其特征在于,在薄膜宽度上补偿和连续地重新调整通过回转输出装置(9)形成的额定断面重新定位,其中为了控制分段的调节区域(7),在调节算法中考虑将折扁平的管状薄膜(6)的一个或多个周向点相对于一个或多个调节区域配置。
5.按照上述权利要求之一项或多项所述用于调节薄膜厚度的方法,其特征在于,预定的额定厚度断面通过一种算法由测量装置(11)的数值来调节,该测量装置(11)在整个薄膜宽度上测量在沿机器方向单轴拉伸以后的薄膜厚度。
6.按照上述权利要求之一项或多项所述用于调节薄膜厚度的方法,其特征在于,用于控制各个分段的调节区域的控制算法包括下列的叠加:
-来自于薄膜吹塑装置(1)的薄膜厚度断面调节系统的基本断面,
-由通过回转输出装置(9)使管状薄膜(6)重新定位而造成的和受拉伸装置影响的拉伸断面,和
-可选择地,来自于薄膜卷的评价的卷断面。
7.按照上述权利要求之一项或多项所述用于调节薄膜厚度的方法,其特征在于,在调节系统中手动地调节额定厚度断面。
8.按照上述权利要求之一项或多项所述用于调节薄膜厚度的方法,其特征在于,将薄膜受阻塞地输送给拉伸装置(2)。
9.按照上述权利要求之一项或多项所述用于调节薄膜厚度的方法,其特征在于,在一侧或两侧切开和展开管状薄膜(6),并且将其输送给拉伸装置。
10.用于实施按照各上述权利要求所述的方法的设备,其特征在于,该设备包括薄膜吹塑装置(1)、至少一个紧接着的拉伸装置(2)以及至少一个卷绕机(3),所述薄膜吹塑装置具有回转输出装置(9)。
11.用于实施按照各上述权利要求所述的方法的设备,其特征在于,调节系统包括多个分段的调节区域(7)、至少两个用于薄膜厚度的测量装置(10、11),其中一个测量装置用于测量管状薄膜(6)在薄膜吹塑头(5)之后和在拉伸装置(2)之前的实际厚度断面,另一个测量装置用于测量在拉伸装置(2)之后的已拉伸的薄膜的实际厚度断面,所述调节系统还包括调节和评价装置(12)。
12.用于实施按照各上述权利要求所述的方法的设备,其特征在于,各分段的调节区域集成在吹塑头、固定的或转动的冷却环或紧接着设置的厚度调节装置中,所述厚度调节装置与回转输出装置同步运动。
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