[发明专利]球栅阵列测试座

权利要求书

1.一种球栅阵列测试座，包括测试座盖以及和测试座盖相匹配的底座，用于测试球栅阵列器件，其特征在于，所述底座上设置有射源放置区，所述射源放置区为与放射源侧壁卡接的闭合凸起，用于将放射源固定其内。

2.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，所述射源放置区为环状凸起。

3.根据权利要求2所述的测试座，其特征在于，所述测试座进一步包括相适配的定位柱和定位孔，所述定位柱呈四角对称分布于底座上，所述定位孔位于测试座盖的相应位置上，定位柱穿过定位孔，用于将底座和测试座盖结合在一起，确保测试座盖置于底座上不发生转动。

4.根据权利要求3所述的测试座，其特征在于，所述射源放置区位于定位柱的内侧。

5.根据权利要求1、2、3或4所述的测试座，其特征在于，所述底座上具有凹陷的芯片放置区，在所述芯片放置区内设置浮动导向。

6.根据权利要求5所述的测试座，其特征在于，所述浮动导向包括浮动板和弹簧片；

所述浮动板为具有凹陷的绝缘板，用于将测试球栅阵列器件固定其凹陷内；所述浮动板的凹陷表面具有多个与测试针相对应的测试针孔，用于底座上的测试针从所述孔内穿出来，与测试球栅阵列器件的输入输出引脚电性连接；所述浮动板的尺寸和形状与芯片放置区相适配；

所述弹簧片连接芯片放置区的凹陷底部和浮动板的下表面，且位于芯片放置区的内部边缘。

7.根据权利要求6所述的测试座，其特征在于，所述测试座盖包括顺次连接的旋转头、旋转螺钉和固定端；

所述旋转头用于旋转控制旋转螺钉的旋进和旋出，将压力通过固定端传递给测试球栅阵列器件的输入输出引脚，实现与测试针的电性接触。