[发明专利]自动光学检测系统以及自动光学检测方法

权利要求书

1.一种自动光学检测系统，其特征在于，包含：

一影像撷取模块，其用以于一单位时间内撷取一待测物的多个不同景深的测量值；

一数据处理单元，其与该影像撷取模块电性连接，用以接收该多个测量值，并输出一比较值；以及

一比较单元，其与该数据处理单元电性连接，用以将该比较值与一参考值比较以判断该待测物是否存在缺陷。

2.根据权利要求1所述的自动光学检测系统，其特征在于，该数据处理单元将该单位时间内的该多个测量值平均以作为该比较值。

3.根据权利要求1所述的自动光学检测系统，其特征在于，该数据处理单元选择该单位时间内的该多个测量值中的一准焦测量值作为该比较值，其中该准焦测量值为该单位时间内的该多个测量值中最接近该影像撷取模块的焦点的测量值。

4.根据权利要求3所述的自动光学检测系统，其特征在于，该准焦测量值为该单位时间内的该多个测量值中的最小值或最大值。

5.根据权利要求3所述的自动光学检测系统，其特征在于，还包含：

一传感器，其与该数据处理单元电性连接，该传感器用以检测该待测物与该影像撷取模块的相对位置并输出一检测信号，该数据处理单元依据该检测信号选择该准焦测量值。

6.根据权利要求1所述的自动光学检测系统，其特征在于，该影像撷取模块包含一影像撷取装置，该影像撷取装置于该单位时间内多次撷取该待测物的该测量值。

7.根据权利要求1所述的自动光学检测系统，其特征在于，该影像撷取模块包含多个不同焦点的影像撷取装置。

8.根据权利要求1所述的自动光学检测系统，其特征在于，该影像撷取模块包含该电荷耦合元件、互补式金属氧化物半导体传感器或接触式影像传感器。

9.根据权利要求1所述的自动光学检测系统，其特征在于，该参考值为人工设定或为前一该单位时间内的该比较值。

10.根据权利要求1所述的自动光学检测系统，其特征在于，该数据处理单元依序选择每一该单位时间内的该准焦测量值组成一扫描影像。

11.根据权利要求10所述的自动光学检测系统，其特征在于，该比较单元将该扫描影像与一参考影像比较，以判断该待测物是否存在缺陷。

12.一种自动光学检测方法，其特征在于，包含：

以一影像撷取模块于一单位时间内撷取一待测物的多个不同景深的测量值；

将该单位时间内的该多个测量值平均或选择该单位时间内的该多个测量值中的一准焦测量值作为一比较值，其中该准焦测量值为该单位时间内的该多个测量值中最接近该影像撷取模块的焦点的测量值；以及

将该比较值与一参考值比较以判断该待测物是否存在缺陷。

13.根据权利要求12所述的自动光学检测方法，其特征在于，该准焦测量值为该单位时间内的该多个测量值中的最小值或最大值。

14.根据权利要求12所述的自动光学检测方法，其特征在于，该准焦测量值是利用一传感器检测该待测物最接近该影像撷取模块的焦点时所撷取的该测量值。

15.根据权利要求12所述的自动光学检测方法，其特征在于，该影像撷取模块包含一影像撷取装置，该影像撷取装置于该单位时间内多次撷取该待测物的该测量值。

16.根据权利要求12所述的自动光学检测方法，其特征在于，该影像撷取模块包含多个不同焦点的影像撷取装置。

17.根据权利要求12所述的自动光学检测方法，其特征在于，该参考值为人工设定或为前一该单位时间内的该比较值。

18.一种自动光学检测方法，其特征在于，包含：

以一影像撷取模块于一单位时间内撷取一待测物的多个不同景深的测量值；

依序选择多个该单位时间内的一准焦测量值组成一扫描影像，其中该准焦测量值为该单位时间内的该多个测量值中最接近该影像撷取模块的焦点的测量值；以及

将该扫描影像与一参考影像比较，以判断该待测物是否存在缺陷。

19.根据权利要求18所述的自动光学检测方法，其特征在于，该准焦测量值为该单位时间内的该多个测量值中的最小值或最大值。