[发明专利]混合模式集成电路的测试系统及方法

权利要求书

1.一种用于混合模式集成电路的测试系统，包括：

一混合模式集成电路，包含：

一模拟至数字转换器，接收一测试信号，并将该测试信号转换成一数字输入数据；

一锁相环，接收一第一外部时序信号，用以产生一输入时序信号；

一时序接脚，接收一第二外部时序信号；及

一先进先出缓冲器，连接至该模拟至数字转换器、该锁相环及该时序接脚，依据该输入时序信号，用以将该数字输入数据写入该先进先出缓冲器中，并依据该第二外部时序信号，用以读出该先进先出缓冲器中的数据；以及

一自动测试装置，连接至该混合模式集成电路，用以产生该测试信号、该第一外部时序信号、及该第二外部时序信号，并依据该第二外部时序信号，用以锁存该先进先出缓冲器中的数据。

2.根据权利要求1所述的混合模式集成电路的测试系统，其中，该混合模式集成电路还包含：

一控制电路，连接至该锁相环及该时序接脚，依据该输入时序信号及该第二外部时序信号，用以产生相对于该先进先出缓冲器的一写入信号及一读出信号。

3.根据权利要求2所述的混合模式集成电路的测试系统，其中，该先进先出缓冲器依据所储存的数据量，分别产生一全满旗标信号及一空旗标信号。

4.根据权利要求3所述的混合模式集成电路的测试系统，其中，该输入时序信号的频率小于或等于该第二外部时序信号的频率。

5.根据权利要求4所述的混合模式集成电路的测试系统，其中，该自动测试装置侦测到该空旗标信号时，将该先进先出缓冲器中所锁存的数据舍弃。

6.根据权利要求5所述的混合模式集成电路的测试系统，其中，当该输入时序信号的频率等于该第二外部时序信号的频率，该自动测试装置侦测到该空旗标信号或该全满旗标信号时，该自动测试装置判定该锁相环为不稳定。

7.根据权利要求6所述的混合模式集成电路的测试系统，其中，该模拟至数字转换器接收该输入时序信号，并该依据输入时序信号以将该测试信号转换成该数字输入数据。

8.根据权利要求1所述的混合模式集成电路的测试系统，其中，该第二外部时序信号频率为该第一外部时序信号频率整数倍。

9.一种用于混合模式集成电路的测试方法，其在一自动测试装置中测试一混合模式集成电路，该混合模式集成电路包含一模拟至数字转换器、一锁相环、一时序接脚、及一先进先出缓冲器，该方法包含下列步骤：

A)该自动测试装置产生一测试信号、一第一外部时序信号、及一第二外部时序信号，其中，该测试信号依据一数字测试数据产生；

B)该锁相环接收该第一外部时序信号，用以产生一输入时序信号；

C)该模拟至数字转换器接收该测试信号及该输入时序信号，依据该输入时序信号用以将该测试信号转换成一数字输入数据；

D)该先进先出缓冲器依据该输入时序信号，用以将该数字输入数据写入该先进先出缓冲器中，并依据该第二外部时序信号，用以读出该先进先出缓冲器中的数据；以及

E)该自动测试装置锁存该先进先出缓冲器的输出数据，进而比对该输出数据与该数字测试数据。

10.根据权利要求9所述的混合模式集成电路的测试方法，其中，该先进先出缓冲器依据其储存的数据量，分别产生一全满旗标信号及一空旗标信号。

11.根据权利要求10所述的混合模式集成电路的测试方法，其中，该输入时序信号的频率小于或等于该第二外部时序信号的频率。

12.根据权利要求11所述的混合模式集成电路的测试方法，其中，该自动测试装置侦测到该空旗标信号时，将该先进先出缓冲器中所锁存的数据舍弃。

13.根据权利要求12所述的混合模式集成电路的测试方法，其中，当该输入时序信号的频率等于该第二外部时序信号的频率，该自动测试装置侦测到该空旗标信号或该全满旗标信号时，该自动测试装置判定该锁相环为不稳定。