[发明专利]一种光电集成电路芯片的测试系统和测试方法

权利要求书

1.一种光电集成电路芯片的测试系统，其特征在于，所述系统包括：

控制主机、集成电路测试仪、带有硬件内部集成电路总线I²C或者系统管理总线SMBuS协议模块的微处理器MCU、承载有待测试芯片的外围电路的探针卡Prober Card；

所述控制主机与集成电路测试仪、Prober Card、MCU连接，用于发送待测试芯片的逻辑功能参数给MCU，还用于接收MCU发送的逻辑功能测试结果并根据接收的逻辑功能测试结果判断待测试芯片的逻辑功能的优劣；

所述MCU与Prober Card连接，用于测试待测试芯片的逻辑功能；

所述集成电路测试仪用于测试待测试芯片的直流参数。

2.如权利要求1所述的光电集成电路的测试系统，其特征在于，所述控制主机还包括：

存储单元，用于存储所述逻辑功能测试结果或判断结果。

3.如权利要求1所述的光电集成电路的测试系统，其特征在于，所述控制主机均用RS-232接口连接MCU及Prober Card。

4.如权利要求1所述的光电集成电路的测试系统，其特征在于，所述集成电路测试仪为待测试芯片提供工作电压、修调熔丝位。

5.如权利要求1所述的光电集成电路的测试系统，其特征在于，所述系统包括：

所述MCU采用MEGA128单片机芯片。

6.如权利要求1所述的光电集成电路的测试系统，其特征在于，所述系统包括：

机械组件，所述机械组件包括一测试探针台，所述测试探针台与控制主机连接，用于实现移动或切换芯片晶圆。

7.如权利要求6所述的光电集成电路的测试系统，其特征在于，所述机械组件包括：

光学传感器固定组件，用于在测试过程中锁定待测试芯片。

8.利用权利要求1所述的光电集成电路的测试系统的测试方法，其特征在于，所述方法包括：

控制主机发送待测试芯片的逻辑功能参数给MCU；

控制主机接收所述MCU测试待测试芯片的逻辑功能之后发送的逻辑功能测试结果；

控制主机根据所述的逻辑功能测试结果判断待测试芯片逻辑功能的优劣；

集成电路测试仪测试待测试芯片的直流参数。

9.如权利要求8所述的光电集成电路的测试系统的测试方法，其特征在于，所述方法还包括步骤：

集成电路测试仪为待测试芯片提供工作电压、修调熔丝位。

10.如权利要求9所述的光电集成电路的测试系统的测试方法，其特征在于，所述方法进一步包括步骤：

锁定待测试芯片。