[发明专利]一种光电集成电路芯片的测试系统和测试方法

说明书

技术领域

本发明属于电路测试领域，尤其涉及一种光电集成电路芯片的测试系统和测试方法。

背景技术

光电集成电路是一种将光学传感器集成在半导体硅片上的集成电路，其特点是将输入的光学模拟量信号直接转化成数字量信号输出，使集成度更高，稳定性更好。该类芯片的数字输出信号多采用串行总线协议的方式，如内部集成电路(Inter-Integrated Circuit，I²C)总线、系统管理总线(System ManagementBus，SMBuS)等。对于这类集成电路芯片的测试方法与传统的测试方法有所不同，其中主要体现在对芯片功能的测试上。传统的芯片功能测试方法是，使用测试系统通过运行PATTERN的方式，给需要测试的芯片施加激励，并通过检测其相应的功能，输出PATTERN来判断待测芯片的优劣。

光电集成电路芯片若采用传统的方式进行功能测试，则必须用PATTERN进行软件模拟I²C协议或者SMBuS协议来测试其功能，这样使得功能PATTERN变得相当冗长，不仅增加了芯片的测试时间，而且降低了测试的稳定性。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种光电集成电路芯片的测试系统，旨在解决现有技术测试光电集成电路芯片的测试时间过长，测试不稳定的问题。

本发明实施例是这样实现的，一种光电集成电路芯片的测试系统，所述系统包括：

控制主机、集成电路测试仪、带有硬件内部集成电路总线I²C或者系统管理总线SMBuS协议模块的微处理器MCU、承载有待测试芯片的外围电路的探针卡Prober Card；

所述控制主机与集成电路测试仪、Prober Card、MCU连接，用于发送待测试芯片的逻辑功能参数给MCU，还用于接收MCU发送的逻辑功能测试结果并根据接收的逻辑功能测试结果判断待测试芯片的逻辑功能的优劣；

所述MCU与Prober Card连接，用于测试待测试芯片的逻辑功能；

所述集成电路测试仪用于测试待测试芯片的直流参数。

本发明实施例的另一目的在于提供利用上述的光电集成电路芯片的测试系统的测试方法，所述方法包括：

控制主机发送待测试芯片的逻辑功能参数给MCU；

控制主机接收所述MCU测试待测试芯片的逻辑功能之后发送的逻辑功能测试结果；

控制主机根据所述的逻辑功能测试结果判断待测试芯片逻辑功能的优劣；

集成电路测试仪测试待测试芯片的直流参数。

本发明实施例在对光电类集成电路芯片测试时，采用带有硬件I²C或者SMBuS协议的微处理器来实现对芯片功能的测试，可以有效缩短芯片的测试时间，增强测试的稳定性，从整体上降低测试成本。

附图说明

图1是本发明实施例提供的光电集成电路芯片的测试系统的结构图；

图2是本发明实施例提供的光电集成电路芯片的测试方法流程图；

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本发明实施例采用带有硬件I²C或者SMBuS协议的微处理器来实现对芯片功能的测试，可以有效缩短芯片的测试时间，增强测试的稳定性，从整体上降低测试成本。

本发明提供了一种光电集成电路芯片的测试系统和测试方法：

所述系统包括：控制主机、集成电路测试仪、带有硬件内部集成电路总线I²C或者系统管理总线SMBuS协议模块的微处理器MCU、承载有待测试芯片的外围电路的探针卡Prober Card；

所述控制主机与集成电路测试仪、Prober Card、MCU连接，用于发送待测试芯片的逻辑功能参数给MCU，还用于接收MCU发送的逻辑功能测试结果并根据接收的逻辑功能测试结果判断待测试芯片的逻辑功能的优劣；

所述MCU与Prober Card连接，用于测试待测试芯片的逻辑功能；

所述集成电路测试仪用于测试待测试芯片的直流参数。

所述方法包括：控制主机发送待测试芯片的逻辑功能参数给MCU；

控制主机接收所述MCU测试待测试芯片的逻辑功能之后发送的逻辑功能测试结果；

控制主机根据所述的逻辑功能测试结果判断待测试芯片逻辑功能的优劣；