[发明专利]一种控制磁控溅射功率在NiTiV基体表面沉积TiO2氧化膜的方法无效

专利信息
申请号: 201010508916.X 申请日: 2010-10-15
公开(公告)号: CN101967625A 公开(公告)日: 2011-02-09
发明(设计)人: 司乃潮;邵红红;司松海;刘光磊;张志敏 申请(专利权)人: 镇江忆诺唯记忆合金有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 212009 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 控制 磁控溅射 功率 nitiv 基体 表面 沉积 tio sub 氧化 方法
【说明书】:

技术领域

本发明属于记忆合金和磁控溅射技术领域,特指一种控制磁控溅射功率在NiTiV基体表面沉积TiO2氧化膜的方法。

背景技术

NiTi基记忆合金是一种新型生物医用材料,具有优良的生物相容性,因此,是医学领域一种理想的生物工程材料。然而二元NiTi记忆合金已不能满足医学领域的应用要求,一是二元NiTi记忆合金相变滞后大(30℃),二是逆相变结束温度高Af为5℃(增加Ni含量可以降低逆相变结束温度,但加工性能大大下降),因此人们开始考虑在二元合金的基础之上添加第三元素,开发出新型医用NiTiV记忆合金材料,可以满足上述要求。但是NiTiV记忆合金耐腐蚀性和生物相容性有待进一步提高,对NiTiV合金进行表面改性是急需解决和十分重要的课题。在NiTiV记忆合金中,元素钛形成氧化物时释放出的热量是元素镍形成氧化物时的4倍,钛对氧高的化学吸附亲和力使得在NiTiV记忆合金表面的氧化物层主要为TiO2。研究表明,NiTiV记忆合金良好的生物相容性源自于其合金表面的富钛氧化物层,经适当热处理与钝化在NiTiV记忆合金表面产生的氧化物层,能有效提高其抗腐蚀性能,根本原因是表面Ni、NiO含量的减少和TiO2含量的增加。在表面改性的的众多技术中,磁控溅射技术具有低温快速在基体表面沉积TiO2薄膜,而又不会影响基体性能的优异性。通过调整工艺参数,可以调整TiO2薄膜的晶型结构、薄膜致密度、膜表面形貌和晶粒大小,从而控制薄膜的生物活性和血液相容性。将磁控溅射技术应用到NiTiV记忆合金进行表面改性,在NiTiV基体表面沉积TiO2氧化膜,该氧化膜具有生物相容性好、能阻止血栓的形成、与基体结合强度高、愈合时间短的特点,具有极高的临床应用价值。本发明将磁控溅射技术用于NiTiV记忆合金进行表面改性,在NiTiV基体表面沉积TiO2氧化膜,经过查询,未见有相关专利发表。

发明内容

本发明的目的是提供一种控制磁控溅射功率在NiTiV基体表面沉积TiO2氧化膜的方法,其特征在于:采用JGP560CVI型超高真空多功能磁控溅射设备,材料为NiTiV记忆合金,靶材为99.9%的纯钛,靶厚3mm,直径60mm。氧气和氩气纯度为99.99%。镀膜工艺流程为:除油(丙酮加无水乙醇超声清洗)、酸洗除锈(10%稀硫酸溶液)、抽真空、样品反溅清洗、靶材反溅清洗、进行镀膜。

磁控溅射的TiO2薄膜的沉积速率随功率增加而增加,基本上成线性关系。如果功率过小,薄膜沉积速率小,薄膜厚度较薄,与基体结合力差;若功率过大,薄膜的晶粒易出现烧结现象,薄膜致密性也不好,厚度不均匀。本发明功率选择六个梯度:100W、120W、140W、160W、180W、200W。

从薄膜的致密性来看(图1),功率为160W时制备的薄膜原子形貌最好;从晶粒大小角度来看(图1),功率为160W制备的薄膜最好;从结构上讲(图1),功率为100W-200W薄膜都是晶态结构。图2为功率和薄膜厚度的函数关系,在相同的沉积时间内,薄膜厚度和薄膜的平均沉积速率是正相关的。图2代表了功率和沉积速率的函数关系,从图2中可以看出,随功率增加,薄膜沉积速率近似线性增加。薄膜厚度是用高分辨率金相显微镜中显微标尺测量,图3为功率为160W时,薄膜的显微组织图,图中一层白亮组织为TiO2薄膜,上面为基体,显微标尺显示膜厚为5μm,采用类似方法测量其它样品薄膜厚度。

附图说明

图1不同功率下薄膜表面形貌

a、100W;b、120W;c、140W;d、160W;e、180W;f、200W

图2溅射功率与薄膜厚度的关系

图3薄膜纵向剖面金相显微组织1000X

具体实施方式

实施例1

采用JGP560CVI型超高真空多功能磁控溅射设备,材料为NiTiV记忆合金,靶材为99.9%的纯钛,靶厚3mm,直径60mm。氧气和氩气纯度为99.99%。镀膜工艺流程为:除油(丙酮加无水乙醇超声清洗)→酸洗除锈(10%稀硫酸溶液)→抽真空→样品反溅清洗→靶材反溅清洗→进行镀膜。

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