[发明专利]光学驱动装置及倾斜检测方法无效

专利信息
申请号: 201010517399.2 申请日: 2010-10-15
公开(公告)号: CN102044274A 公开(公告)日: 2011-05-04
发明(设计)人: 齐藤公博;久保毅;田部典宏 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G11B7/135 分类号: G11B7/135;G11B7/09
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光学 驱动 装置 倾斜 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种光学驱动装置,用于通过物镜将第一光聚焦在光学记录介质的记录层中的必要位置而形成标记来执行信息记录或记录信息的再现,所述光学驱动装置包括:

位置控制单元,被配置为经由所述物镜将第二光聚焦在其中形成有所述光学记录介质的位置引导元件的反射膜上,并基于聚焦在所述反射膜上的所述第二光的反射光使所述第二光的光斑位置能够跟随所述位置引导元件以控制所述物镜的位置;

第一聚焦单元,被配置为聚焦通过将所述第二光照射到所述光学记录介质经由所述物镜而入射的所述第二光的来自所述光学记录介质的反射光;

第一光传感部,被设置为使包含在由所述第一聚焦单元聚焦的所述第二光的反射光中的来自所述光学记录介质的表面的反射光的光斑形成在所述第一光传感部的光传感表面上;以及

表面反射光偏移量检测单元,被配置为基于由所述第一光传感部产生的光传感信号来检测来自所述表面的所述反射光的所述光斑与所述光传感表面中的基准位置的偏移量。

2.根据权利要求1所述的光学驱动装置,还包括分光元件,被配置为光谱地分割经由所述物镜从所述光学记录介质入射的所述第二光的反射光,

其中,所述第一聚焦单元被设置在至少一个被所述第一分光元件光谱地分割的光所聚焦的位置。

3.根据权利要求1所述的光学驱动装置,其中:

所述分光元件包括第一全息元件,并通过衍射来光谱地分割经由所述物镜入射的所述第二光的反射光,

所述第一聚焦单元被设置在由作为所述第一全息元件的所述分光元件光谱地分割的0阶光和1阶光都聚焦的位置,以及

所述第一光传感部被设置在包含在从所述分光元件输出的1阶光侧中的来自所述表面的反射光的由所述第一聚焦单元形成的光斑形成在所述光传感表面上的位置处。

4.根据权利要求1所述的光学驱动装置,还包括第一聚焦位置校正单元,被配置为基于有关由所述表面反射光偏移量检测单元检测的所述偏移量的信息来校正所述第一光在所述记录层中的聚焦位置。

5.根据权利要求1所述的光学驱动装置,还包括:

检测光照射单元,在用于将从光源发射的所述第二光引导到所述物镜的光路中具有第二全息元件,所述第二全息元件被插入在光源侧但不是分光点的位置上,用于光谱地分割所述第二光的来自所述光学记录介质的反射光,并且,所述检测光照射单元被配置为经由所述物镜接收从所述第二全息元件输出的1阶光,并且照射聚焦在位于所述反射膜的后面且距离所述反射膜为所述光学记录介质的表面与所述反射膜之间的距离的两倍的位置处的检测光;

第二聚焦单元,被配置为聚焦通过将所述检测光照射到所述光学记录介质而经由所述物镜入射的所述检测光的来自所述光学记录介质的反射光;

第二光传感部,被设置为使包含在由所述第二聚焦单元聚焦的所述检测光的反射光中的所述检测光的来自所述反射膜的反射光的光斑形成在所述第二传感部的光传感表面上;以及

检测光偏移量检测单元,被配置为基于所述第二光传感部产生的光传感信号来检测所述检测光的来自所述反射膜的反射光的光斑与所述光传感表面中的基准位置的偏移量。

6.根据权利要求5所述的光学驱动装置,其中:

所述第一聚焦单元与所述第二聚焦单元是同一聚焦元件,该同一聚焦元件被设置在从所述第二全息元件输出的所述第二光的0阶光分量的来自所述光学记录介质的反射光和所述检测光的来自所述光学记录介质的反射光所入射的位置处,

所述光学驱动装置还包括第三全息元件,被配置为接收被所述同一聚焦元件聚焦的来自所述光学记录介质的反射光,

所述第一光传感部被设置在包含在所述第三全息元件的1阶光侧中的来自所述表面的反射光的由所述同一聚焦元件形成的光斑形成在所述光传感表面上的位置处;以及

所述第二光传感部被设置在包含在所述第三全息元件的所述1阶光侧中的所述检测光的来自所述反射膜的反射光的由所述同一聚焦元件形成的所述光斑形成在所述光传感表面上的位置处。

7.根据权利要求5所述的光学驱动装置,还包括第二聚焦位置校正单元,被配置为基于有关由所述表面反射光偏移量检测单元检测的所述偏移量的信息以及有关由所述检测光偏移量检测单元检测的所述偏移量的信息两者来校正所述第一光在所述记录层中的聚焦位置。

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