[发明专利]基于IEEE1500标准的IP核测试结构及测试方法无效
| 申请号： | 201010519749.9 | 申请日： | 2010-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN101976216A | 公开（公告）日： | 2011-02-16 |
| 发明（设计）人： | 俞洋;杨智明;付宁;王帅;乔立岩;彭喜元 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人： | 张果瑞 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 ieee1500 标准 ip 测试 结构 方法 | ||
1.基于IEEE 1500标准的IP核测试结构，其特征在于它包括FPGA处理器(1)和RS232收发器(2)，FPGA处理器(1)的信号通讯端与RS232收发器(2)的信号通讯端相连，RS232收发器(2)的上位机通讯端用于与上位机相连，所述FPGA处理器(1)内部固化有数据缓存模块(1-1)、配置信号生成模块(1-2)、数据总线分配模块(1-3)、测试指令生成模块(1-4)、i个测试数据生成模块(1-5)、顶层控制模块(1-6)和命令总线分配模块(1-7)，顶层控制模块(1-6)的配置信号生成使能信号输出端与配置信号生成模块(1-2)的配置信号生成使能信号输入端相连，顶层控制模块(1-6)的数据总线分配使能信号输出端与数据总线分配模块(1-3)的数据总线分配使能信号输入端相连，顶层控制模块(1-6)的测试指令生成使能信号输出端与测试指令生成模块(1-4)的测试指令生成使能信号输入端相连，顶层控制模块(1-6)的测试数据生成使能信号输出端同时与i个测试数据生成模块(1-5)的测试数据生成使能信号输入端相连，测试指令生成模块(1-4)的第1、2、…、i个IP核命令控制信号输出端分别与第1、2、…、i个被测IEEE 1500标准封装IP核的命令控制信号输入端相连，测试指令生成模块(1-4)的命令总线输出端与命令总线分配模块(1-7)的信号输入端通过命令总线相连，命令总线分配模块(1-7)的第1、2、…、i个命令信号输出端分别与第1、2、…、i个被测IEEE 1500标准封装IP核的命令信号输入端相连，每个测试数据生成模块(1-5)的IP核测试数据传输控制信号输出端与对应的被测IEEE 1500标准封装IP核的测试数据传输控制信号输入端相连，每个测试数据生成模块(1-5)的IP核测试数据通讯端与对应的被测IEEE 1500标准封装IP核的第一IP核测试数据通讯端通过数据总线相连，数据缓存模块(1-1)的配置信号通讯端与配置信号生成模块(1-2)的配置信号通讯端相连，数据缓存模块(1-1)的测试数据总线通讯端与数据总线分配模块(1-3)的测试数据总线通讯端通过数据总线相连，配置信号生成模块(1-2)的命令总线分配控制信号输出端与命令总线分配模块(1-7)的总线分配控制信号输入端相连，配置信号生成模块(1-2)的测试数据生成控制信号输出端同时与i个测试数据生成模块(1-5)的测试数据生成控制信号输入端相连，配置信号生成模块(1-2)的n个数据总线分配控制信号输出端与数据总线分配模块(1-3)的n个数据总线分配控制信号输入端相连，i个测试数据生成模块(1-5)的第二IP核测试数据通讯端与数据总线分配模块(1-3)的IP核测试数据通讯端通过数据总线相连。
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