[发明专利]通带滤光片的设计和制造方法无效
申请号: | 201010542185.0 | 申请日: | 2010-11-13 |
公开(公告)号: | CN102062888A | 公开(公告)日: | 2011-05-18 |
发明(设计)人: | 王明利;王卫国 | 申请(专利权)人: | 王明利;王卫国 |
主分类号: | G02B5/20 | 分类号: | G02B5/20 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 425100 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 滤光 设计 制造 方法 | ||
技术领域
本发明的技术领域是光学薄膜领域,是关于光学薄膜的设计和制备方法。
背景技术
含有多腔的Fabry-Perot结构的通带滤光片应用非常广泛,可应用于光通信的DWDM系统、CWDM系统、光学仪器、医疗仪器等。多腔的F-P结构的滤光片,通常是由?λ0光学厚度 (λ0为通带滤光片的中心波长)或其整数倍的高低折射率材料交叠而成,因为高低折射率材料之间的误差相互补偿,所以多层?λ0光学厚度的通带滤光片的控制,最有效的常用方法是极值法。
发明内容
一种通带滤光片从设计到控制的方法,此方法用于通带滤光片的设计与制造,可以抑制通带波纹的产生,提高产品品质。
现有技术的描述
多腔的F-P结构的滤光片,通常是由?λ0光学厚度或其整数倍的高低折射率材料交叠而成,这种多腔结构F-P滤光片的相邻谐振腔之间的连接层(又名耦合层)的厚度也是?λ0光学厚度或其奇数倍。为了消除通带波纹,只有最前二层或最后二层(几层)是非?λ0光学厚度,因为高低折射率材料之间的误差相互补偿,所以多层?λ0光学厚度的通带滤光片的控制,最有效的常用方法是极值法。但是,这种设计和控制方法存在一个问题:通带波纹在很多情况下无法消除,通过调节膜系的结构(F-P对称结构的层数)可以改善,但是对于一个给定带宽和矩形度的通带滤光片,通带波纹更难消除。
新技术的描述
新技术是在现有技术的基础上发展而成。现有技术的相邻谐振腔之间的连接层(耦合层)均为?λ0光学厚度或其奇数倍,新技术改耦合层为复合耦合层。复合耦合层由连接层及其前后一层或几层构成,内含优化的非?λ0光学厚度层,此处除连接层以外的层可以由原有相邻层优化而成,也可以增加新层。在控制时,各?λ0光学厚度层采用极值法控制,复合耦合层各层采用几何法或比例法控制,通过优化复合耦合层各层厚度,使其最后一层非?λ0光学厚度层完成时,光量变化正好处于极值点的位置,也就是说,复合耦合层最后一层也可采用极值法监控,这样,后续?λ0光学厚度层就可以继续采用极值法控制了。本发明采用复合耦合层,通过优化厚度,达到高低折射率材料之间的误差补偿,即达到了消除通带波纹的目的,又解决了膜系的中间(此处不含膜系的最前和最后几层)含有非?λ0光学厚度层不能用极值法监控的问题,使直接法可以全程监控整个膜系的生长过程。本发明使得给定带宽和矩形度的通带滤光片的生产变得很容易实现。
附图说明
图1 只有后两层为优化的非?λ0光学厚度的设计,即典型的现有技术的透过率曲线。
图2 本发明的透过率曲线,其中含有优化的非?λ0光学厚度的复合耦合层。
图3 采用直接法监控时,现有技术的多腔F-P结构滤光片的光量信号变化图。
图4 采用直接法监控时,本发明的多腔F-P结构滤光片光量信号变化图。
图5 采用直接法监控时,复合耦合层的光量信号变化图。
具体实施例
一个典型的多腔F-P结构的滤光片设计,即典型的现有技术设计:基板/HL6HLHLHL6HLHLHLHL6HLHLHLHL6HLHLHLHL6HLHLHLHL6HLHLHLHL6HLHLHLHL6HLHLHLHL6HLHLHL6H1.4866L0.3183H/空气,只有最后两层为优化的非?λ0光学厚度的设计。H代表高折射率Ta2O5材料,L代表低折射率SiO2材料,1H和1L为一个?λ0光学厚度,λ0=625nm。
图1为典型的多腔的F-P结构的滤光片(现有技术)透过率曲线。
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