[发明专利]X-ray自动连续式检测设备

权利要求书

1.一种X-ray自动连续式检测设备，其特征在于，其至少包括：

一个X-ray检测装置，具有一个辐射光源及一个信号处理器，该信号处理器用以接收辐射光源所产生的能量输出信号，且该X-ray检测装置两侧分别开设有一个入孔及出孔；

载带，两端分别穿设于该X-ray检测装置的入孔及出孔，并置于辐射光源与信号处理器之间以供X-ray检测装置进行检测，而该载带具有数个等间距排列以收容芯片元件的容置槽；以及，

分析系统，电连接该信号处理器以分析芯片元件的品质。

2.根据权利要求1所述的X-ray自动连续式检测设备，其特征在于，该载带的容置槽开设有吸取该芯片元件的孔洞，且载带一端排设有数个孔。

3.根据权利要求2所述的X-ray自动连续式检测设备，其特征在于，该X-ray检测装置前端进一步设有一个用以输送该载带得输送装置，该输送装置具有一控制模组及一传动机构，而该控制模组电连接该传动机构以控制其工作。

4.根据权利要求3所述的X-ray自动连续式检测设备，其特征在于，该分析系统后端进一步设有一个自动分类装置，将分析过后的芯片元件进行分类。

5.一种X-ray自动连续式检测设备，其特征在于，其步骤包括：

于输送装置上配置载带；

于载带的容置槽中置入芯片元件；

将X-ray检测装置的可检测区域内的容置槽，于分析系统中就各位置的容置槽设定一编号，以便检测比对；

将置入芯片元件的载带依预设路线穿设至X-ray检测装置的辐射光源与信号处理器间，借助辐射光源以数个散射角度的X-射线产生的能量输出信号传送至信号处理器；

信号处理器的检测值传送至分析系统，以借助该分析系统就各位置的芯片元件做检测分析，并将其检测结果指令传送至自动分类装置，进行分类作业。

6.根据权利要求5所述的X-ray自动连续式检测设备，其特征在于，于芯片元件检测完毕并进行分类后，该载带重新装设于该输送装置上。