[发明专利]X-ray自动连续式检测设备无效

专利信息
申请号: 201010545555.6 申请日: 2010-11-16
公开(公告)号: CN102466648A 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 邱鸿智 申请(专利权)人: 邱鸿智
主分类号: G01N23/18 分类号: G01N23/18
代理公司: 北京汇智英财专利代理事务所 11301 代理人: 张俊阁
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: ray 自动 连续 检测 设备
【说明书】:

技术领域

发明是有关于一种X-ray自动连续式检测设备,特别是指一种以自动化的方式检测芯片元件的缺陷,并可同时检测多个芯片元件,而大幅降低检测的工时,且载承该芯片元件的载带亦可回收再利用,则可达到环保的目的的X-ray自动连续式检测设备。

背景技术

按,现有X-ray检测芯片元件前,会先将制作完成的芯片元件载入检测载带上,并于载带上贴覆一膜将其封装,再开始进行X-ray检测,然现有的X-ray的光束检测范围有限,使得每一次仅可供一芯片元件检测,且该芯片元件检查方式是利用人工操作的方式将芯片元件载入X-ray检测设备中,再以人工方式检视光检测仪器上的芯片元件,是否有缺陷并纪录缺陷的芯片元件,当检查完成后再以人工的方式将载带上的膜撕开将芯片元件取下,而使该载带无法再次利用。

且现有的检测方式,因一次仅能检测一芯片元件,而相当耗时;尔后,有些业者则采抽样的方式检查芯片元件,其虽节省工时但相对的风险亦增高许多,且X-ray检测设备具有辐射,无论是抽样检查或是更换检测的载带,替换人员则需频繁的进入X-ray检测设备房,长久下来,对人体亦是一种无形的迫害。

有鉴于此,如何将上述缺失加以摒除,即为本案创作人所欲解决的技术困难点的所在;是而,本案创作人基于多年从事相关产品设计的经验,有感于上述传统用品的不便,经多年苦心孤诣潜心研究,试作改良,终于可以摒除现有装填测试片的诸多缺点,成功研发完成本案,并使本创作得以诞生,以增进功效。

发明内容

为了解决上述问题,本发明目的在于提供一种一次检测多个载带上的芯片元件,而可提高检测的效率的X-ray自动连续式检测设备。

本发明是提供一种X-ray自动连续式检测设备,至少包括:

一X-ray检测装置,其具有一辐射光源及一信号处理器,其信号处理器是用以接收辐射光源所产生的能量输出信号,且该X-ray检测装置两侧是分别开设有一设计规划大小的入孔及出孔;

载带,其两端分别穿设于X-ray检测装置的入孔及出孔,并置于辐射光源与信号处理器间,以供X-ray检测装置进行检测,而该载带具有数个等间距排列的容置槽,用以收容芯片元件;以及,

一分析系统,电连接该信号处理器,用以分析该芯片元件的品质;

借此,于X-ray检测装置一可容许的检测区域内,一次检测多个载带上的芯片元件,而可提高检测的效率。

附图说明

图1是本发明的流程图。

图2是本发明的平面示意图。

图3是本发明的局部载带立体示意图。

图4是本发明的实施例图。

图5是本发明的步骤图。

【主要元件符号说明】

10 输送装置    11 控制模组     12 传动机构    121 轴杆

122 定位件      20 X-ray检测装置   21 辐射光源      22 信号处理器

23 入孔         24 出孔            30 载带          31 容置槽

311 孔洞        32 孔              40 分析系统      50 芯片载入装置

60 自动分类装置                    70 芯片元件      h 宽度

x 检测范围                         100 于输送装置上配置载带

200 于载带的容置槽中置入芯片元件

300 设定容置槽的编号               400 进行芯片元件检测

500 进行芯片元件分类               600 回收载带再利用

具体实施方式

为使本发明的内容,及所能达成的功效得到充分的了解,兹配合附图列举一具体实施例,详细介绍说明如下:

请参阅图1至图4所示,本发明一种X-ray自动连续式检测设备,其包括:一输送装置10、一X-ray检测装置20、载带30及一分析系统40;其中,

该输送装置10,其具有一控制模组11及一传动机构12,其控制模组11电连接该传动机构12以控制其工作,而该传动机构12则设有一轴杆121及至少一定位件122。

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