[发明专利]TFT-LCD电学不良测试电路和测试方法有效
申请号: | 201010549182.X | 申请日: | 2010-11-17 |
公开(公告)号: | CN102467863A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
发明(设计)人: | 董云 | 申请(专利权)人: | 北京京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00;G01R31/00 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100176 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | tft lcd 电学 不良 测试 电路 方法 | ||
1.一种TFT-LCD电学不良的测试电路,其特征在于,包括:测试装置,与对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输入端相连接,所述测试装置控制所述第一参考电压和第二参考电压的输出端向数据线输出恒定电压。
2.根据权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述测试装置包括:受第一控制信号控制的第一开关,所述第一开关连接在所述第一参考电压或第二参考电压的输入端;受第二控制信号控制的第二开关,所述第二开关的两端分别连接在所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间。
3.根据权利要求2所述的测试电路,其特征在于,在测试时,所述第一控制信号控制所述第一开关断开,从而将所述第一参考电压或第二参考电压的输入端的电路断开;所述第二控制信号控制所述第二开关闭合,从而将所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间的电路连通。
4.根据权利要求1所述的测试电路,其特征在于,所述测试装置包括:受选择控制信号控制的选择开关,所述选择开关的固定连接端与所述第一参考电压或第二参考电压的输入端相连接,所述选择开关的选择连接端选择连通第一参考电压或第二参考电压的输入端与选择开关的固定连接端之间的电路,或选择连通所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间的电路。
5.根据权利要求4所述的测试电路,其特征在于,在测试时,所述选择开关的选择连接端连通所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间的电路。
6.一种TFT-LCD电学不良的测试方法,其特征在于,包括:
每一帧画面,控制对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输出端都向数据线输出恒定电压。
7.根据权利要求6所述的测试方法,其特征在于,在所述控制对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输出端都向数据线输出恒定电压之后包括:
通过调节公共电极电压Vcom调整灰度,得到不同灰度等级的画面。
8.根据权利要求7所述的测试方法,其特征在于,所述灰度等级的范围为:L40~L80或L100~L150。
9.根据权利要求6-8任一项所述的测试方法,其特征在于,所述每一帧画面,控制对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输出端都向数据线输出恒定电压包括:
当前帧,向数据线输出电压的数值等于对应同一灰阶的第一参考电压或第二参考电压的电压;
下一帧,向数据线输出的电压与前一帧向数据线输出的电压相同。
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