[发明专利]TFT-LCD电学不良测试电路和测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，简称TFT-LCD)领域，尤其是一种TFT-LCD电学不良测试电路和测试方法。

背景技术

在平板显示技术中，TFT-LCD具有体积小、功耗低、无辐射、制造成本相对较低等特点，在当前的平板显示器市场占据了主导地位。

随着液晶显示器(Liquid Crystal Display，简称LCD)生产的不断扩大，产品性能也不断的提高，其中，产品的不良检测在整个生产过程中有着举足轻重的作用。

在TFT-LCD的检测过程中，利用DC/DC(直流转直流电源)测试方法能有效的区分出电学和光学不良，这样能大大缩小不良在前段工程的定位范围，为快速寻找不良机理和对策提供很大帮助。

然而已知了一个显示屏是由电学不良造成的，如何区分出其是电容性的还是TFT性相关的，目前量产测试中尚无很好的办法。目前成盒后的检测方法，跟终端的检测方法和机理一样，虽能很好的检测出液晶显示器的各种光学和电学不良，但在已知了是由电学不良造成的前提下，尚不能很好的区分出其是电容性的还是TFT性相关的，尤其是一些明暗不均痕迹(Mura)类不良，在大规模发生时，不能及时区分出来，这样就造成了不良定位缓慢，从而导致损失较大。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种TFT-LCD电学不良的测试电路和测试方法，能够有效的区分出电容性和TFT性不良。

为解决上述技术问题，本发明TFT-LCD电学不良的测试电路和测试方法采用如下技术方案：

一种TFT-LCD电学不良的测试电路，包括：测试装置，与对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输入端相连接，所述测试装置控制所述第一参考电压和第二参考电压的输出端向数据线输出恒定电压。

所述测试装置包括：受第一控制信号控制的第一开关，所述第一开关连接在所述第一参考电压或第二参考电压的输入端；受第二控制信号控制的第二开关，所述第二开关的两端分别连接在所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间。

在测试时，所述第一控制信号控制所述第一开关断开，从而将所述第一参考电压或第二参考电压的输入端的电路断开；所述第二控制信号控制所述第二开关闭合，从而将所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间的电路连通。

所述测试装置包括：受选择控制信号控制的选择开关，所述选择开关的固定连接端与所述第一参考电压或第二参考电压的输入端相连接，所述选择开关的选择连接端选择连通第一参考电压或第二参考电压的输入端与选择开关的固定连接端之间的电路，或选择连通所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间的电路。

在测试时，所述选择开关的选择连接端连通所述第一参考电压和第二参考电压的输入端之间的电路。

一种TFT-LCD电学不良的测试方法，包括：

每一帧画面，控制对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输出端都向数据线输出恒定电压。

在所述控制对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输出端都向数据线输出恒定电压之后包括：

通过调节公共电极电压Vcom调整灰度，得到不同灰度等级的画面。

所述灰度等级的范围为：L40～L80或L100～L150。

所述每一帧画面，控制对应同一灰阶的第一参考电压和第二参考电压的输出端都向数据线输出恒定电压包括：

当前帧，向数据线输出电压的数值等于对应同一灰阶的第一参考电压或第二参考电压的电压；

下一帧，向数据线输出的电压与前一帧向数据线输出的电压相同。

在本实施例的技术方案中，通过控制对应同一灰阶的两个参考电压向数据线输出同一恒定电压，从而液晶极性不反转，实现直流检测，直流测试可以一直对TFT实施充电，不存在放电过程，可消除TFT性不良的影响，并且由于扫描信号的存在，对电容性不良不能消除，因此，可以有效的区分出电容性和TFT性不良。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术PCB参考电压的电路示意图；

图2为本发明实施例测试电路的结构示意图之一；