[发明专利]一种实现STM-1接口的多路E1口的测试方法和系统

权利要求书

1.一种实现STM-1接口的多路E1口的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

A、将中间设备线路侧的STM-1接口上的每个E1口与中间设备支路侧的N路E1口建立一一对应关系；

B、将中间设备支路侧的N路E1口依次串联，形成N路E1口串联测试通道；

C、将所述N路E1口串联测试通道连接同步数字体系SDH测试仪，并将中间设备线路侧的STM-1接口对接被测设备的STM-1接口；以及

D、所述SDH测试仪通过N路E1口串联测试通道对被测设备的STM-1接口的所有E1口同时进行测试；

其中，N为大于等于2的整数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述N路E1口串联测试通道中的每个E1口通过中间设备线路侧的STM-1接口与被测设备的STM-1接口的所有E1口建立一一对应关系。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述一一对应关系通过映射实现。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述中间设备支路侧的N路E1口串联方式包括：SDH测试仪的发送端连接第1路E1口的接收端，第1路E1口的发送端连接第2路E1口的接收端，直至第N-1路E1口的发送端连接第N路E1口的接收端，第N路E1口的发送端连接SDH测试仪的接收端。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，若所述SDH测试仪测得所述E1口的串联测试通道出现误码，则可通过中间设备的网管查看被测设备的STM-1接口上具体出现误码的E1口。

6.一种实现STM-1接口的多路E1口的测试系统，其特征在于，包括：

中间设备支路侧，用于将N路E1口依次串联，形成N路E1口串联测试通道；

中间设备线路侧，用于将STM-1接口上的每个E1口与中间设备支路侧的N路E1口建立一一对应关系，并将STM-1接口对接被测设备STM-1接口；以及

同步数字体系测试仪，用于连接所述N路E1口串联测试通道，通过N路E1口串联测试通道对被测设备的STM-1接口的所有E1口同时进行测试；

其中，N为大于等于2的整数。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述N路E1口串联测试通道中的每个E1口通过中间设备线路侧的STM-1接口与被测设备的STM-1接口的所有E1口建立一一对应关系。

8.根据权利要求6或7所述的系统，其特征在于，所述一一对应关系通过映射实现。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述中间设备支路侧的N路E1口串联方式包括：SDH测试仪的发送端连接第1路E1口的接收端，第1路E1口的发送端连接第2路E1口的接收端，直至第N-1路E1口的发送端连接第N路E1口的接收端，第N路E1口的发送端连接SDH测试仪的接收端。

10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，若所述SDH测试仪测得所述E1口的串联测试通道出现误码，则可通过中间设备的网管查看被测设备的STM-1接口上具体出现误码的E1口。