[发明专利]一种实现STM-1接口的多路E1口的测试方法和系统有效

申请号：	201010567208.3	申请日：	2010-11-30
公开（公告）号：	CN101997738A	公开（公告）日：	2011-03-30
发明（设计）人：	申雅玲	申请（专利权）人：	中兴通讯股份有限公司
主分类号：	H04L12/26	分类号：	H04L12/26
代理公司：	北京元本知识产权代理事务所 11308	代理人：	秦力军
地址：	518057 广东省深圳市南山***	国省代码：	广东;44
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摘要：
搜索关键词：	一种实现 stm 接口 e1 测试方法系统
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【说明书】：

技术领域

本发明涉及通道化STM-1中的E1口测试，特别涉及一种实现STM-1接口的多路E1口的测试方法和系统。

背景技术

通道化STM-1接口在测试时，一般都是通过测试通道化STM-1接口的63路E1口中的某一路E1口实现接口误码性能测试的，但由于物理走线、时钟分发等不同，通道化STM-1接口的63路E1口的每路E1口都有各自的特性，只测试其中一路或者几路并不能代表通道化STM-1接口的63路E1口所有通路的误码性能，不能表示道化STM-1接口的63路E1口所有通路都可以正常收发包，所以在严格测试要求下应该是通道化STM-1接口的63路E1口都测试，但因为每路测试一般实验室要求24小时不丢包，63路E1口都测试完需要大量的时间，这就需要大量的人力和物力，并且目前市面上大部分SDH测试仪表一般都不支持这种功能，而个别支持这种功能的测试仪表非常昂贵。

发明内容

本发明的目的在于提供一种实现STM-1接口的多路E1口的测试方法，用于解决STM-1接口上多路E1口同时测试的问题。

本发明的另一目的在于提供一种实现STM-1接口的多路E1口的测试系统，用于解决STM-1接口上多路E1口同时测试的问题。

根据本发明的一个方面，提供了一种实现STM-1接口的多路E1口的测试方法，包括以下步骤：

A、将中间设备线路侧的STM-1接口上的每个E1口与中间设备支路侧的N路E1口建立一一对应关系；

B、将中间设备支路侧的N路E1口依次串联，形成N路E1口串联测试通道；

C、将N路E1口串联测试通道连接同步数字体系SDH测试仪，并将中间设备线路侧的STM-1接口对接被测设备的STM-1接口；

D、SDH测试仪通过N路E1口串联测试通道对被测设备的STM-1接口的所有E1口同时进行测试；

其中，N为大于等于2的整数。

优选的，N路E1口串联测试通道中的每个E1口通过中间设备线路侧的STM-1接口与被测设备的STM-1接口的所有E1口建立一一对应关系。

优选的，一一对应关系通过映射实现。

优选的，中间设备支路侧的N路E1口串联方式包括：SDH测试仪的发送端连接第1路E1口的接收端，第1路E1口的发送端连接第2路E1口的接收端，直至第N-1路E1口的发送端连接第N路E1口的接收端，第N路E1口的发送端连接SDH测试仪的接收端。