[发明专利]设置测试点的方法有效
| 申请号： | 201010569260.2 | 申请日： | 2010-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN102479272A | 公开（公告）日： | 2012-05-30 |
| 发明（设计）人： | 郑力荣 | 申请（专利权）人： | 英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;祁建国 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 设置 测试 方法 | ||
1.一种设置测试点的方法，适于在一布线文件中的电路基板上配置至少一测试点，其特征在于，该设置测试点的方法包括：
读取该布线文件，该布线文件包括至少一布线；
判断该布线是否具有一初始测点；以及
设置该测试点于未具有该初始测点的该布线。
2.如权利要求1所述的设置测试点的方法，其特征在于，还包括：当该布线具有该初始测点时，读取该布线文件中的下一该布线的步骤。
3.如权利要求1所述的设置测试点的方法，其特征在于，该测试点的周围预留有一测试空间。
4.如权利要求1所述的设置测试点的方法，其特征在于，该布线文件包括该初始测点位于该电路基板上的位置坐标、该初始测点所连结的组件名称、以及该初始测点的测试点型态。
5.如权利要求1所述的设置测试点的方法，其特征在于，还包括：
输出不具有该初始测点与该测试点的该布线的步骤，令使用者手动设置不具有该初始测点与该测试点的该布线的测试点位置。
6.如权利要求1所述的设置测试点的方法，其特征在于，还包括：
读取一贯穿孔的尺寸；
判断该贯穿孔的尺寸是否小于一预定尺寸；以及
设置该测试点于小于该预定尺寸的该贯穿孔上。
7.如权利要求6所述的设置测试点的方法，其特征在于，还包括：当该贯穿孔的尺寸大于该预定尺寸时，读取下一该贯穿孔的尺寸的步骤。
8.如权利要求6所述的设置测试点的方法，其特征在于，该测试点的周围预留有一测试空间。
9.如权利要求6所述的设置测试点的方法，其特征在于，该布线文件包括该初始测点位于该电路基板上的位置坐标、该初始测点所连结的组件名称、以及该初始测点的测试点型态。
10.如权利要求6所述的设置测试点的方法，其特征在于，还包括：
输出不具有该初始测点与该测试点的该贯穿孔的步骤，令使用者手动设置不具有该初始测点与该测试点的该贯穿孔的测试点位置。
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