[发明专利]防反射用层合体及其制备方法、以及固化性组合物无效
申请号: | 201010570741.5 | 申请日: | 2010-11-29 |
公开(公告)号: | CN102152560A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
发明(设计)人: | 川合高弘;漆原英一郎;金森太郎 | 申请(专利权)人: | JSR株式会社 |
主分类号: | B32B27/06 | 分类号: | B32B27/06;B32B9/04;B32B33/00;C09D4/02;C09D7/12 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 左嘉勋;顾晋伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 反射 合体 及其 制备 方法 以及 固化 组合 | ||
1.一种防反射用层合体,其在基材上具有固化膜,所述固化膜含有基质和折射率为1.40以下的颗粒,所述基质具有选自羟基、羧基、磷酸酯基和磺基中的1种以上的极性基团,所述基质1g中的羟基浓度、羧基浓度、磷酸酯基浓度和磺基浓度的合计为0.5mmol/g~15mmol/g;
所述颗粒偏在于所述固化膜中与所述基材接触的面相反的面侧。
2.如权利要求1所述的防反射用层合体,其中,所述基质1g中的羟基浓度为2.0mmol/g~15mmol/g。
3.如权利要求1所述的防反射用层合体,其中,所述基质1g中的羧基浓度、磷酸酯基浓度和磺基浓度的合计为0.5mmol/g~10mmol/g。
4.如权利要求1所述的防反射用层合体,其中,所述基质1g中的羧基浓度、磷酸酯基浓度和磺基浓度的合计为0.5mmol/g~5mmol/g。
5.如权利要求1所述的防反射用层合体,其中,所述颗粒是中空二氧化硅颗粒。
6.一种防反射用层合体,其在基材上具有固化性组合物的固化膜,所述固化性组合物含有聚合性化合物和折射率为1.40以下的颗粒,所述聚合性化合物具有选自羟基、羧基、磷酸酯基和磺基中的1种以上的极性基团,全部聚合性化合物1g中的羟基浓度、羧基浓度、磷酸酯基浓度和磺基浓度的合计为0.5mmol/g~15mmol/g;
所述颗粒偏在于所述固化膜中与所述基材接触的面相反的面侧。
7.如权利要求6所述的防反射用层合体,其中,所述全部聚合性化合物1g中的羟基浓度为2.0mmol/g~15mmol/g。
8.如权利要求6所述的防反射用层合体,其中,所述全部聚合性化合物1g中的羧基浓度、磷酸酯基浓度和磺基浓度的合计为0.5mmol/g~10mmol/g。
9.如权利要求6所述的防反射用层合体,其中,所述全部聚合性化合物1g中的羧基浓度、磷酸酯基浓度和磺基浓度的合计为0.5mmol/g~5mmol/g。
10.如权利要求6所述的防反射用层合体,其中,所述颗粒是中空二氧化硅颗粒。
11.如权利要求1~10中任一项所述的防反射用层合体,其中,所述基材是三乙酰纤维素树脂膜或聚对苯二甲酸乙二醇酯树脂膜。
12.一种防反射用层合体的制备方法,该方法包括将固化性组合物涂布于基材、然后使其固化的工序,其中所述固化性组合物含有聚合性化合物和折射率为1.40以下的颗粒,所述聚合性化合物具有选自羟基、羧基、磷酸酯基和磺基中的1种以上的极性基团,全部聚合性化合物1g中的羟基浓度、羧基浓度、磷酸酯基浓度和磺基浓度的合计为0.5mmol/g~15mmol/g。
13.如权利要求12所述的防反射用层合体的制备方法,其中,所述固化性组合物的全部聚合性化合物1g中的羟基浓度为2.0mmol/g~15mmol/g。
14.如权利要求12所述的防反射用层合体的制备方法,其中,所述固化性组合物的全部聚合性化合物1g中的羧基浓度、磷酸酯基浓度和磺基浓度的合计为0.5mmol/g~10mmol/g。
15.如权利要求12所述的防反射用层合体的制备方法,其中,所述固化性组合物的全部聚合性化合物1g中的羧基浓度、磷酸酯基浓度和磺基浓度的合计为0.5mmol/g~5mmol/g。
16.如权利要求12所述的防反射用层合体的制备方法,其中,所述颗粒是中空二氧化硅颗粒。
17.如权利要求12~16中任一项所述的防反射用层合体的制备方法,其中,所述基材是三乙酰纤维素树脂膜或聚对苯二甲酸乙二醇酯树脂膜。
18.一种固化性组合物,其含有聚合性化合物和折射率为1.40以下的颗粒,所述聚合性化合物具有选自羟基、羧基、磷酸酯基和磺基中的1种以上的极性基团,全部聚合性化合物1g中的羟基浓度、羧基浓度、磷酸酯基浓度和磺基浓度的合计为0.5mmol/g~15mmol/g。
19.如权利要求18所述的固化性组合物,其中,所述全部聚合性化合物1g中的羟基浓度为2.0mmol/g~15mmol/g。
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