[发明专利]基于并行折叠计数器的重播种测试方案

权利要求书

1.一种基于并行折叠计数器的重播种测试方案，其特征是通过线性反馈移位寄存器LFSR和折叠计数器对测试集进行双重编码压缩，在测试过程中通过相移器和并行折叠控制电路并行移入多扫描链结构的被测电路完成测试功能。

2.根据权利要求1所述的基于并行折叠计数器的重播种测试方案，其特征是按如下步骤操作：

第一步：测试前数据压缩过程

a、采用自动测试模式生成工具ATPG对被测电路要求测试的故障生成确定的测试集T，并记LFSR种子集为种子集S，所述种子集S初始为空；

b、在所述测试集T中，选取一个测试向量P，将所述测试向量P对应的所有折叠种子生成出来，用LFSR对所有的折叠种子进行编码，记录所有编码成功的折叠种子以及编码后的LFSR种子；再一一记录所有编码成功的折叠种子所生成的折叠计数器状态序列中包含在测试集T中的测试向量；能够覆盖测试集T中最多测试向量的折叠种子以及对应的LFSR种子被保留下来，并将保留下的LFSR种子添加到种子集S中；

c、在测试集T中找出与步骤b中保留下来的折叠种子生成的折叠计数器状态序列相容的测试向量，并将找出的测试向量从测试集T中删除掉；

d、循环所述步骤b和c，直至测试集T为空；

第二步：测试过程

e、采用基于多扫描链结构被测电路下的并行测试施加方案，设扫描链的条数为N，每条扫描链的长度等长为K，并且K是偶数；若最后一条扫描链的长度不满足要求，则将测试集T中每个测试向量尾部补足无关位，使最后一条扫描链满足要求；

f、测试过程中，选取步骤b中的保留的种子集S的任意一个LFSR种子，并记为m；LFSR种子m通过LFSR解码得到折叠种子，LFSR结合相移器使折叠种子通过并行折叠控制电路的翻转控制，得到折叠计数器状态序列移入到被测电路的扫描链中，经过K个时钟周期完成一个测试向量的移入；当折叠种子所有折叠计数器状态序列测试全部完成测试，则将选取的LFSR种子m从种子集S中删除；

g、重复步骤f，直至种子集合S为空。

3.根据权利要求2所述的基于并行折叠计数器的重播种测试方案，其特征是所述步骤b中LFSR编码的方法是，对于测试集T中任一测试向量，使LFSR能成功编码其折叠种子之一即可；对于要进行编码的折叠种子的选择所遵循的原则是：该折叠种子编码后的LFSR种子经扩展生成的折叠计数器状态序列能够覆盖测试集T中最多的测试向量。

4.根据权利要求2所述的基于并行折叠计数器的重播种测试方案，其特征是为获得步骤f中所述的折叠计数器状态序列，设置折叠距离计数器、位计数器、译码器、比较器和段折叠控制电路；所述折叠距离计数器由段折叠距离计数器和段中折叠距离计数器组成，折叠距离值＝段折叠距离计数器数值×扫描链的长度+段中折叠距离计数器数值；由所述译码器对于段折叠距离计数器数值译码得到N位的0...01...1序列，所述N为扫描链的条数，所述0...01...1序列中第一次出现1的位置设为第L位，表示折叠距离值在第L条扫描链上；比较器比较的是段中折叠距离计数器数值和位计数器数值的大小，比较器输出值和译码器的输出值通过段折叠控制电路得到翻转信号，以翻转信号控制生成折叠计数器状态序列。

5.根据权利要求4所述的基于并行折叠计数器的重播种测试方案，其特征是所述段折叠控制电路分为段1折叠控制电路和非段1折叠控制电路；

所述段1折叠控制电路有1个，是由一个与门和二选一的多路选择器MUX组成，与门输入端接译码器第一位译码输出信号与比较器输出信号，与门输出接二选一的多路选择器MUX的选择端，二选一的多路选择器MUX的两个输入端接段中折叠距离计数器和位计数器的最低符号位，二选一的多路选择器MUX的输出为翻转信号；

所述非段1折叠控制电路是从段2折叠控制电路到段N折叠控制电路共N-1个；所述每一个非段1折叠控制电路均由一个与门、一个或门和二选一的多路选择器MUX组成，在所述非段1折叠控制电路中，段M折叠控制电路的与门输入端接译码器第M位译码输出信号和比较器输出信号，与门的输出端和译码器的第M-1位译码器输出信号接到或门的输入端，或门的输出端接多路选择器MUX的选择端，1＜M＜N+1；二选一的多路选择器MUX的两个输入端接段中折叠距离计数器和位计数器的最低符号位，二选一的多路选择器MUX的输出为翻转信号；段折叠控制电路输出的翻转信号通过异或门控制翻转从相移器移出的数据，从而得到折叠计数器状态序列。