[发明专利]特殊封装芯片的测试方法无效

专利信息
申请号: 201010571098.8 申请日: 2010-12-02
公开(公告)号: CN102012478A 公开(公告)日: 2011-04-13
发明(设计)人: 凌俭波;祁建华;张志勇;汤雪飞;陈燕;叶建明;徐惠;王静 申请(专利权)人: 上海华岭集成电路技术股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G08C19/00
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 201203 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 特殊 封装 芯片 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种特殊封装芯片的测试方法,由包括测试盒、控制中心和测试机的测试系统实施,其特征在于,包括以下步骤:

通过所述测试盒向所述控制中心发送操作指令,所述控制中心根据操作指令控制测试机完成相应动作;

所述测试机将测得的测试数据传输给所述控制中心,所述控制中心将测试数据发送给所述测试盒,所述测试盒对测试数据进行分析并显示分析结果;

通过所述测试盒向所述控制中心发送操作指令,所述控制中心根据操作指令完成相应动作。

2.如权利要求1所述的特殊封装芯片的测试方法,其特征在于,所述测试盒包括单片机、键盘和指示器,所述单片机分别与所述键盘和所述指示器连接,所述单片机与所述控制中心双向连接,所述键盘上设有操作指令按钮。

3.如权利要求2所述的特殊封装芯片的测试方法,其特征在于,通过所述测试盒向所述控制中心发送操作指令,所述控制中心根据操作指令控制测试机完成相应动作具体包括以下步骤:

按下所述键盘上的操作指令按钮,同时,所述键盘向所述单片机发送信号;

所述单片机根据接收的信号向所述控制中心发送相应的操作指令;

所述控制中心根据接收的操作指令控制所述测试机完成相应动作。

4.如权利要求3所述的特殊封装芯片的测试方法,其特征在于,所述操作指令按钮不同,所述键盘向所述单片机发送的信号不同。

5.如权利要求2所述的特殊封装芯片的测试方法,其特征在于,所述测试机每测试一个待测特殊封装芯片,就会将测得的该待测特殊封装芯片的测试数据传输给所述控制中心,所述控制中心又将测试数据传输给所述单片机,由所述单片机对测试数据进行分析,所述单片机将分析得出的测试结果传输给所述显示器,由所述显示器直接显示测试结果。

6.如权利要求5所述的特殊封装芯片的测试方法,其特征在于,所述显示器包括红灯、绿灯、黄灯和显示屏,所述红灯、绿灯、黄灯和显示屏分别与所述单片机连接,当所述单片机对测试数据进行分析得出待测特殊封装芯片为合格产品,所述单片机控制所述绿灯发光,当所述单片机对测试数据进行分析得出待测特殊封装芯片为不合格产品,所述单片机控制所述红灯发光,并将分析得出的失效地信息发送给所述显示屏,由所述显示屏直接显示。

7.如权利要求2所述的特殊封装芯片的测试方法,其特征在于,通过所述测试盒向所述控制中心发送操作指令,所述控制中心根据操作指令完成相应动作具体包括以下步骤:

按下所述键盘上的操作指令按钮,同时,所述键盘向所述单片机发送信号;

所述单片机根据接收的信号向所述控制中心发送相应的操作指令;

所述控制中心根据接收的操作指令完成相应动作。

8.如权利要求7所述的特殊封装芯片的测试方法,其特征在于,所述操作指令按钮不同,所述键盘向所述单片机发送的信号不同。

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