[发明专利]特殊封装芯片的测试系统

权利要求书

1.一种特殊封装芯片的测试系统，包括测试机、与所述测试机双向连接的控制中心，其特征在于，还包括测试盒，所述测试盒与所述控制中心双向连接；所述测试盒向所述控制中心发送操作指令，所述控制中心根据操作指令控制所述测试机完成相应动作；所述测试机测得的测试数据通过所述控制中心传输给所述测试盒，由所述测试盒进行数据分析后直接显示测试结果。

2.如权利要求1所述的特殊封装芯片的测试系统，其特征在于，所述测试盒通过串口协议或者GPIB协议与所述控制中心连接。

3.如权利要求1所述的特殊封装芯片的测试系统，其特征在于，所述测试盒包括单片机、键盘和指示器，所述单片机分别与所述键盘和所述指示器连接，所述单片机与所述控制中心双向连接，所述键盘用于输入操作指令，所述指示器用于显示测试结果。

4.如权利要求3所述的特殊封装芯片的测试系统，其特征在于，所述指示器为指示灯。

5.如权利要求3所述的特殊封装芯片的测试系统，其特征在于，所述指示器包括指示灯和显示屏。

6.如权利要求4或5所述的特殊封装芯片的测试系统，其特征在于，所述指示灯包括黄灯、绿灯和红灯，所述黄灯、绿灯和红灯分别与所述单片机连接。

7.如权利要求3所述的特殊封装芯片的测试系统，其特征在于，所述键盘上设有数字按钮和指令按钮。