[发明专利]特殊封装芯片的测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及集成电路测试领域，尤其涉及一种特殊封装芯片的测试系统。

背景技术

一些特殊用途的集成电路成品(例如军用集成电路)与现有测试系统中的机械手(handler)不匹配，由于测试这些特殊用途的集成电路成品的机会不多，专门为这些特殊用途的集成电路成品配置匹配的机械手是不合算的，因此，现有技术中测试这些特殊用途的集成电路成品采用的方法是，将待测样品与测试机连接，通过与测试机连接的控制中心，人工控制测试机对待测样品进行测试，这种方法的缺点是：

1、操作不方便、效率低、易出错，对于不同型号的测试机，需要通过不同的控制界面控制测试机，因此，测试时先要选择出与测试机型号相适应的控制中心的控制界面，对于不熟练的测试员，查找出正确的控制界面需要花费较多时间，而且易出错；

2、测试结果不能直接显示，测试机传输给控制中心的测试数据通常有几万个，要获得最终测试结果(待测样品是否合格以及失效地)，需要从这几万个数据中分析得出。

发明内容

本发明的目的在于提供一种特殊封装芯片的测试系统，使用方便、工作效率高，且能直接显示测试结果。

为了达到上述的目的，本发明提供一种特殊封装芯片的测试系统，包括测试机、与所述测试机双向连接的控制中心，以及测试盒，所述测试盒与所述控制中心双向连接；所述测试盒向所述控制中心发送操作指令，所述控制中心根据操作指令控制所述测试机完成相应动作；所述测试机测得的测试数据通过所述控制中心传输给所述测试盒，由所述测试盒进行数据分析后直接显示测试结果。

上述特殊封装芯片的测试系统，其中，所述测试盒通过串口协议或者GPIB协议与所述控制中心连接。

上述特殊封装芯片的测试系统，其中，所述测试盒包括单片机、键盘和指示器，所述单片机分别与所述键盘和所述指示器连接，所述单片机与所述控制中心双向连接，所述键盘用于输入操作指令，所述指示器用于显示测试结果。

上述特殊封装芯片的测试系统，其中，所述指示器为指示灯。

上述特殊封装芯片的测试系统，其中，所述指示器包括指示灯和显示屏。

上述特殊封装芯片的测试系统，其中，所述指示灯包括黄灯、绿灯和红灯，所述黄灯、绿灯和红灯分别与所述单片机连接。

上述特殊封装芯片的测试系统，其中，所述键盘上设有数字按钮和指令按钮。

本发明的特殊封装芯片的测试系统采用测试盒发送操作指令，对不同型号的测试机，操作流程只有一个，省去切换控制界面的麻烦，节省了操作时间，提高了工作效率，而且使用起来非常方便，也不易出错；

本发明的特殊封装芯片的测试系统中的测试盒直接显示测试结果，使用起来直观、方便。

附图说明

本发明的特殊封装芯片的测试系统由以下的实施例及附图给出。

图1是本发明特殊封装芯片的测试系统的结构示意图。

图2是本发明测试盒实施例一的结构示意图。

图3是本发明测试盒实施例二的结构示意图。

图4是本发明中键盘实施例一的结构示意图。

具体实施方式

以下将结合图1～图4对本发明的特殊封装芯片的测试系统作进一步的详细描述。

参见图1，本发明的特殊封装芯片的测试系统包括测试盒100、控制中心200和测试机300；

所述控制中心200与所述测试机300双向连接；

所述测试盒100与所述控制中心200双向连接；

所述测试盒100向所述控制中心200发送操作指令，所述控制中心200根据操作指令控制所述测试机300完成相应动作；

所述测试机300测得的测试数据通过所述控制中心200传输给所述测试盒100，由所述测试盒100进行数据分析后直接显示测试结果。

本发明的特殊封装芯片的测试系统采用测试盒发送操作指令，对不同型号的测试机，操作流程只有一个，省去切换控制界面的麻烦，节省了操作时间，提高了工作效率，而且使用起来非常方便，也不易出错；

本发明的特殊封装芯片的测试系统中的测试盒直接显示测试结果，使用起来直观、方便。

图2所示为所述测试盒100实施例一的结构示意图，本实施例中，所述测试盒100包括单片机110、键盘130和指示灯120；

所述单片机110分别与所述键盘130和所述指示灯120连接；

所述单片机110与所述控制中心200双向连接，所述单片机110与所述控制中心200的接口协议可以是串口通信协议或者GPIB协议；