[发明专利]图像拾取设备和缺陷检测方法无效
申请号: | 201010578215.3 | 申请日: | 2010-12-08 |
公开(公告)号: | CN102098431A | 公开(公告)日: | 2011-06-15 |
发明(设计)人: | 中岛务 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | H04N5/225 | 分类号: | H04N5/225;H04N5/335;H04N5/357 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 周少杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像 拾取 设备 缺陷 检测 方法 | ||
1.一种没有用于阻挡由固态图像拾取元件接收的光的光屏蔽器件的图像拾取设备,所述图像拾取设备包括:
提供部件,用于提供用于重置浮置扩散的电荷的信号,布置所述浮置扩散以便对应于所述固态图像拾取元件中的一个或多个像素;以及
检测部件,用于检测所述像素,其中从所述浮置扩散的电荷的重置起经过一定时间之后,所述像素的输出的改变大于预定阈值。
2.如权利要求1所述的图像拾取设备,
其中,在重置所述浮置扩散的电荷之前,所述提供部件提供用于重置形成所述像素的光电二极管中累积的电荷的信号。
3.如权利要求2所述的图像拾取设备,
其中,在重置所述浮置扩散的电荷之前,所述提供部件提供用于重置形成邻近所述像素的邻近像素的光电二极管中累积的电荷的信号。
4.如权利要求1所述的图像拾取设备,还包括:
存储部件,用于存储指示在所述固态图像拾取元件中的二维阵列上、由所述检测部件检测到的所述像素的位置的地址。
5.如权利要求1所述的图像拾取设备,还包括:
校正部件,用于当读取对应于指示在所述固态图像拾取元件中的二维阵列上、由所述检测部件检测到的所述像素的位置的地址的像素时,基于读取的所述像素周围的周围像素的像素值,校正读取的所述像素的像素值。
6.一种在没有用于阻挡由固态图像拾取元件接收的光的光屏蔽器件的图像拾取设备的固态图像拾取元件中的缺陷检测方法,所述缺陷检测方法包括以下步骤:
提供用于重置浮置扩散的电荷的信号,布置所述浮置扩散以便对应于所述固态图像拾取元件中的一个或多个像素;以及
检测所述像素,其中从所述浮置扩散的电荷的重置起经过一定时间之后,所述像素的输出的改变大于预定阈值。
7.一种没有用于阻挡由固态图像拾取元件接收的光的光屏蔽器件的图像拾取设备,所述图像拾取设备包括:
提供部件,用于提供用于重置浮置扩散的电荷的信号、以及用于重置光电二极管中累积的电荷的信号,布置所述浮置扩散以便对应于一个或多个像素,所述光电二极管形成所述固态图像拾取元件中的所述像素;以及
检测部件,用于检测所述像素,其中在从所述浮置扩散的电荷的重置起的短曝光时间中、重置所述光电二极管中累积的电荷时,所述像素的输出急剧改变。
8.一种没有用于阻挡由固态图像拾取元件接收的光的光屏蔽器件的图像拾取设备,所述图像拾取设备包括:
提供部分,配置为提供用于重置浮置扩散的电荷的信号,布置所述浮置扩散以便对应于所述固态图像拾取元件中的一个或多个像素;以及
检测部分,配置为检测所述像素,其中从所述浮置扩散的电荷的重置起经过一定时间之后,所述像素的输出的改变大于预定阈值。
9.一种没有用于阻挡由固态图像拾取元件接收的光的光屏蔽器件的图像拾取设备,所述图像拾取设备包括:
提供部分,配置为提供用于重置浮置扩散的电荷的信号、以及用于重置光电二极管中累积的电荷的信号,布置所述浮置扩散以便对应于一个或多个像素,所述光电二极管形成所述固态图像拾取元件中的所述像素;以及
检测部分,配置为检测所述像素,其中在从所述浮置扩散的电荷的重置起的短曝光时间中、重置所述光电二极管中累积的电荷时,所述像素的输出急剧改变。
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