[发明专利]图像拾取设备和缺陷检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及图像拾取设备和缺陷检测方法，并且具体涉及这样的图像拾取设备和缺陷检测方法，其使得能够在没有用于挡光的光屏蔽器件(如可变光阑等)的情况下，更容易和以低成本进行图像拾取设备的固态图像拾取元件中的缺陷检测。

背景技术

在固态图像拾取元件中出现的缺陷像素的校正包括静态缺陷校正和动态缺陷校正。

静态缺陷校正校正通过在从工厂装运之前等测试固态图像拾取元件所检测到的缺陷像素。在静态缺陷校正中，所有缺陷像素的地址作为测试的结果存储在非易失性存储器中。因此，基于正常的周围像素内插对应于该地址的像素的像素值是足够的。因此可以容易地校正缺陷像素。

然而，因为需要预先测试固态图像拾取元件，并且提供非易失性存储器，所以芯片成本的增加是不可避免的。此外，当缺陷像素中的缺陷以取决于如温度、电压值等的状态的程度改变时，测试时缺陷的程度和缺陷校正时缺陷的程度可能相互不同，使得可能没有适当地校正缺陷像素。

另一方面，通过例如在流动(streaming)期间执行作为检测目标的像素和周围像素的像素值之间的相对比较，动态缺陷校正检测缺陷像素，并且校正检测到的缺陷像素。在动态缺陷校正中，在任何时间检测缺陷像素。因此，不需要提供用于存储所有缺陷像素的地址的非易失性存储器，并且提供小容量线存储器是足够的。

用于检测这样的缺陷像素的方法根据执行该方法的信号处理电路的算法而不同，并且检测的精度和缺陷像素的校正受信号处理电路的处理能力很大的影响。

例如，近来，固态图像拾取元件已经小型化，并且在像素的数目上增加，并且形成像素的光电二极管(PD)的光接收区域已经稳定地减小。为了补救，存在即使仅稍稍通过使得放大晶体管、重置晶体管、浮置扩散(FD)等由多个像素共享，也增加PD的光接收区域的趋势。因此，例如当在由多个像素共享的FD中出现缺陷时，所有的共享像素看起来是缺陷像素。因此，动态缺陷检测要求更精确的缺陷检测。此外，共享像素的数目越大，用于检测缺陷像素的线存储器的所需要的容量越高。

顺便提及，提出了一种技术，其通过例如在可变光阑关闭一次的状态下(也就是说，在接通电源时固态图像拾取元件被光屏蔽的状态下)，在图像拾取设备中执行图像拾取，并且检测从固态图像拾取元件的各个像素的像素值突出的像素值，检测缺陷像素。

例如，存在一种技术，用于通过在可变光阑关闭的状态执行图像拾取，检测和校正具有不同温度特性的缺陷像素(见日本专利公开No.2009-105582，下文中称为专利文献1)。

发明内容

然而，专利文献1等的上述技术不能应用于在没有可变光阑的便携式电话等中提供的固态图像拾取元件。

已经鉴于这样的情况做出了本发明，并且本发明使得能够在没有用于挡光的光屏蔽器件(如可变光阑等)的情况下，更容易和以低成本进行图像拾取设备的固态图像拾取元件中的缺陷检测。

根据本发明的第一实施例，提供一种没有用于阻挡由固态图像拾取元件接收的光的光屏蔽器件的图像拾取设备，所述图像拾取设备包括：提供部件，用于提供用于重置浮置扩散的电荷的信号，布置所述浮置扩散以便对应于所述固态图像拾取元件中的一个或多个像素；以及检测部件，用于检测像素，其中从所述浮置扩散的电荷的重置起经过一定时间之后，所述像素的输出的改变大于预定阈值。

在重置所述浮置扩散的电荷之前，所述提供部件可以提供用于重置形成所述像素的光电二极管中累积的电荷的信号。

在重置所述浮置扩散的电荷之前，所述提供部件可以提供用于重置形成邻近所述像素的邻近像素的光电二极管中累积的电荷的信号。

所述图像拾取设备还可包括存储部件，用于存储指示在所述固态图像拾取元件中的二维阵列上、由所述检测部件检测到的所述像素的位置的地址。

所述图像拾取设备还可以包括校正部件，用于当读取对应于指示在所述固态图像拾取元件中的二维阵列上、由所述检测部件检测到的所述像素的位置的地址的像素时，基于读取的所述像素周围的周围像素的像素值，校正读取的所述像素的像素值。

根据本发明的第一实施例，提供一种在没有用于阻挡由固态图像拾取元件接收的光的光屏蔽器件的图像拾取设备的固态图像拾取元件中的缺陷检测方法，所述缺陷检测方法包括以下步骤：提供用于重置浮置扩散的电荷的信号，布置所述浮置扩散以便对应于所述固态图像拾取元件中的一个或多个像素；以及检测像素，其中从所述浮置扩散的电荷的重置起经过一定时间之后，所述像素的输出的改变大于预定阈值。