[发明专利]一种含有停止层的集成电路介电层结构无效
申请号: | 201010579276.1 | 申请日: | 2010-12-08 |
公开(公告)号: | CN102543942A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 任丙振;张进刚 | 申请(专利权)人: | 和舰科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | H01L23/522 | 分类号: | H01L23/522;H01L23/532 |
代理公司: | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人: | 王光辉 |
地址: | 215025 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 含有 停止 集成电路 介电层 结构 | ||
1.一种含有停止层的集成电路介电层结构,包括第一介电层,所述第一介电层上设置有金属层,所述金属层上设置有第二介电层;其中,所述第一介电层上设置有第一金属导孔,所述第二介电层上设置有第二金属导孔,所述第一金属导孔和第二金属导孔形成堆叠金属导孔,其特征在于,
所述金属层与第二介电层之间设置有停止层,该停止层的材质不同于所述金属层和第二介电层的材质;
或者,所述第二介电层内部设置有停止层,该停止层的材质不同于所述第二介电层中的其它材质。
2.根据权利要求1所述的含有停止层的集成电路介电层结构,其特征在于,所述第一介电层为层间介电层,所述第二介电层为金属层间绝缘层。
3.根据权利要求1所述的含有停止层的集成电路介电层结构,其特征在于,所述第一介电层和第二介电层均为金属层间绝缘层。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于和舰科技(苏州)有限公司,未经和舰科技(苏州)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010579276.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:夜光键电脑键盘
- 下一篇:一种检测环境水样中邻苯二甲酸二环己酯的方法