[发明专利]全CMOS精确电流采样电路无效
申请号: | 201010598946.4 | 申请日: | 2010-12-21 |
公开(公告)号: | CN102156211A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
发明(设计)人: | 李文昌;方健;王泽华;管超;陈吕赟;吴琼乐;柏文斌;杨毓俊;黎俐;于廷江 | 申请(专利权)人: | 成都成电硅海科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00 |
代理公司: | 成都惠迪专利事务所 51215 | 代理人: | 刘勋 |
地址: | 610041 四川省成都市高新区*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | cmos 精确 电流 采样 电路 | ||
技术领域
本发明属于电子技术领域,涉及H桥功率驱动器集成电路,同时涉及电流采样电路。
背景技术
由于直流电机的广泛应用,推出了一批功能齐全,使用简单的直流电机驱动器,它们包括有半桥、双半桥、四半桥、单H桥、双H桥等。
在H桥功率驱动电路中,需要准确、高效地检测功率开关管的电流值,所以电流检测方法的设计有很重要的意义,同时电流采样技术对于功率器件和负载的过流保护也极其重要。功率电路中常用的电流采样方法有电阻采样、磁采样、SENSEFET采样等,SENSEFET采样电流方法如图1所示。图中Kelvin线表示考虑了电路中的电流流过金属线造成的电压差的影响。通常SENSEFET的栅宽远小于MainFET的栅宽,希望Isense与IOUT的比例关系由功率管功率管sense MOS和DMOS的W/L之比决定,按1/N的比例采样。工作在饱和区的MOS管漏极电流为,以N管为例:
μn为电子的迁移率,Cox为单位面积的栅氧化层电容,W为栅的宽度,L为栅的长度,VGS为栅源两极之间的电压,VTH为阈值电压。
SENSEFET的漏极电流
DMOS管的漏极电流为
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