[发明专利]一种记忆卡测试方法无效

专利信息
申请号: 201010612139.3 申请日: 2010-12-29
公开(公告)号: CN102136298A 公开(公告)日: 2011-07-27
发明(设计)人: 陈志明 申请(专利权)人: 东莞矽德半导体有限公司
主分类号: G11C29/08 分类号: G11C29/08
代理公司: 东莞市中正知识产权事务所 44231 代理人: 刘林
地址: 523000 广东省东莞市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 记忆 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种记忆卡测试方法,主要用于自动化测试机,该自动化测试机包括储放管理单元,及一组以上的开卡测试单元,及一组以上的读写测试单元,及移载单元,及控制单元,其步骤为:

1).以移载单元将测试物从储放管理单元处移出并送至开卡测试单元;

2).开卡测试单元对测试物进行测试;

3).通过测试的测试物以移载单元自开卡测试单元处移动至读写测试单元,不通过的测试物则送回储放管理单元对应的置放区;

4).读写测试单元对测试物进行读写的测试;

5).将测试物依测试结果以移载单元移动至储放管理单元相对应的置放区。

2.根据权利要求1所述的一种记忆卡测试方法,其特征在于:所述储放管理单元能供测试物放置;所述开卡测试单元能对测试物进行开卡作业的相关测试;所述读写测试单元能对测试物进行读写作业的相关测试;所述移载单元能将测试物于储放管理单元、开卡测试单元与读写测试单元等三等元之间作移入或移出的动作;所述控制单元能控制前述单元产生预期的动作,使得放置于储放管理单元的测试物能依序进行开卡或读写测试。

3.根据权利要求2所述的一种记忆卡测试方法,其特征在于:所述储放管理单元内形成有测试物置放区、未通过开卡测试的置放区、未通过读写测试的置放区、以及通过测试的置放区。

4.根据权利要求3所述的一种记忆卡测试方法,其特征在于:所述通过测试的置放区可区分为通过开卡测试的成品区及通过读写测试的成品区。

5.根据权利要求1所述的一种记忆卡测试方法,其特征在于:其中该测试物为记忆卡。

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