[发明专利]一种记忆卡测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种记忆卡测试方法。

背景技术

一般快闪式记忆卡（例如SD卡、mini SD卡）在厂商出货前，须至少通过二道的测试作业。第一道为开卡测试，此测试参数是由记忆卡生产厂商提供，确认记忆卡是否为不良品。第二道为读写测试，此测试参数一般改为使用厂商提供。使用厂商是根据市面各家读卡机的特性，制定适当的测试参数，确保通过读写测试的记忆卡在卖给消费者后，该记忆卡仍能正常使用。

现有记忆卡开卡测试作业是采用手动模式，测试流程依序为确认测试物数量、设定测试参数、连接测试治具、将测试物放置于测试治具处、进行开卡测试、以及依测试结果区分良品与不良品。由于是手动模式，故须利用大量人员操作及进行测试，因此也须大量测试治具及设备。另外记忆卡另一道的读写测试作业也是采用手动模式，测试流程基本上与前述开卡测试流程大致相同，不同之处在于：设定的测试参数不同以及配合使用的测试装置也不同。整体而言，昔用记忆卡测试作业因采用手动模式效率较差且设备及人力成本较高。再者，由于开卡测试与读写测试所采用的装置并不相同，故须区分二个工作区域分别进行。当记忆卡先经开卡测试后区分出良品与不良品，经统计分类后，再将良品移动至读写测试区进行测试，之后再次区分出良品与不良品，再次经分类统计而后收集，如此不断统计收集方式不仅费时费工，也容易因人为操作的不当，造成最终数量的不正确。

由于上述原因，部份厂商即开始研发自动化的测试机台，但由于开卡测

试或读写测试所使用的测试装置有些不同，再加上开卡测试时间较短，而读写测试因目前记忆卡容量不断提升，使得测试时间愈来愈长。因此目前自动化的测试机台通常仅能提供单一模式的测试，例如业界俗称之T1测试机仅能提供开卡测试，T2测试机则仅提供读写测试。此方式则乃存在着一个缺点，仍然需要人力将通过开卡测试的良品以人力搬运移动至读写测试机台，再进行输入数量及统计的工作。而且单一的T1测试机在使用时，仅能对单一记忆卡生产公司的产品进行测试，如果测试不同厂商的记忆卡，则须先全部更新不同厂商的测试界面，非常麻烦且费时。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种测试效率高，而且测试时间精简，结果正确的记忆卡测试方法。本发明是通过以下技术方案来实现的：

本发明的一种记忆卡测试方法，主要用于自动化测试机，该自动化测试机包括储放管理单元，及一组以上的开卡测试单元，及一组以上的读写测试单元，及移载单元，及控制单元，其步骤为:

1).以移载单元将测试物从储放管理单元处移出并送至开卡测试单元;

2).开卡测试单元对测试物进行测试;

3).通过测试的测试物以移载单元自开卡测试单元处移动至读写测试单元，不通过的测试物则送回储放管理单元对应的置放区；

4).读写测试单元对测试物进行读写的测试;

5).将测试物依测试结果以移载单元移动至储放管理单元相对应的置放区。

作为优选，所述储放管理单元能供测试物放置；所述开卡测试单元能对测试物进行开卡作业的相关测试；所述读写测试单元能对测试物进行读写作业的相关测试；所述移载单元能将测试物于储放管理单元、开卡测试单元与读写测试单元等三等元之间作移入或移出的动作；所述控制单元能控制前述

单元产生预期的动作，使得放置于储放管理单元的测试物能依序进行开卡或读写测试。

作为优选，所述储放管理单元内形成有测试物置放区、未通过开卡测试的置放区、未通过读写测试的置放区、以及通过测试的置放区。

作为优选，所述通过测试的置放区可区分为通过开卡测试的成品区及通过读写测试的成品区。

作为优选，其中该测试物为记忆卡。

本发明的一种记忆卡测试方法，使用方便适用范围广，该测试机能使不同厂商的记忆卡在同一台机上进行开卡测试，之后再分别进行后续的读写测试，再依测试结果分别储存收集，让厂商在测试时更为方便。而且购买此单一机台除了能个别进行开卡与读写测试外，也能采一贯化的测试流程如依序进行开卡测试、读写测试，为厂商减少设备的投资成本。

附图说明

为了易于说明，本发明由下述的较佳实施例及附图作以详细描述。

图1为本发明测试机的结构方块图；

图2为本发明记忆卡测试方法的流程图。

具体实施方式