[发明专利]一种TFT探测基板及其制作方法、X射线探测器有效

专利信息
申请号: 201010612511.0 申请日: 2010-12-29
公开(公告)号: CN102544024A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 郭炜;李禹奉;王路;孙增辉;张航;王珂 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/77;H01L27/146;G01N23/04
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 tft 探测 及其 制作方法 射线 探测器
【说明书】:

技术领域

发明涉及光电技术领域,尤其涉及一种TFT探测基板及其制作方法、X射线探测器。

背景技术

目前,硅基薄膜晶体管(Si TFT,Si Thin Film Transistor)有源寻址技术与非晶硅(a-Si)光电二极管这种光敏感元件结合,发展出大面积二维传感器件,例如TFT探测基板,该探测基板包括TFT和光电二极管,当光信号照射光电二级管时,所感生的光生电荷量将反映光照信息,TFT沟道的关闭和导通来控制该光照信息的储存和读取。这种二维传感器件能以近乎100%的光利用率传递光信息,其具有高传感能力、高灵敏度、高灰度级和快速响应的优点。能对大面积、高信息容量的图像信息进行数据储存、分析和按需要进行各种处理。该技术已经广泛应用于医疗检测、材料探伤、海关安检等领域。

图1为现有技术中一种TFT探测基板的剖面结构示意图,如图1所示,该TFT探测基板包括:基板,基板上设有栅线层,栅线层中包括栅线和与所述栅线连接的TFT栅极1,所述栅线层上设有栅绝缘层2,栅绝缘层2上设置有有源层,所述有源层包括非晶硅层3和掺杂非晶硅层4(又称为欧姆接触层),有源层上设置有数据线层,数据线层中包括数据线、TFT漏极5和TFT源极6,TFT漏极5与数据线相连接,所述栅线和所述数据线之间限定有像素区域,像素区域内设有光电二极管7,与TFT源极6相连接,光电二极管7上设置有第一透明导电层9,数据线层上还设置有钝化层8,钝化层8上设置有树脂层10,树脂层10上设置有第二透明导电层11,导电金属层12穿过第二透明导电层11和钝化层8与第一透明导电层相连接,另外,导电金属层12的上方还设置有第二树脂层15。

其中,栅极层由依次沉积的铝钕(AlNd)层、铬(Cr)层和氮化铬(CrNx)层所形成,数据线层由Cr层所形成,这样来讲,在图1所示探测基板的制作过程中,Cr的使用会导致含有Cr6+的废水及废酸等工艺副产物的排放,而Cr6+是一种对人体和动植物具有很大危害的金属离子,因此对生物和环境具有潜在威胁,而且,含有Cr6+的废水及废酸必须经过严格的后续处理过程,成本较高。

发明内容

本发明解决的技术问题是,提供一种TFT探测基板及其制作方法、X射线探测器,能够对生物和环境进行有效保护,且有效降低成本。

为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案:

一种TFT探测基板,包括:

基板,所述基板上设有栅线层,所述栅线层中包括栅线和与所述栅线连接的TFT栅极,所述栅线层的上方设有数据线层,所述数据线层中包括数据线,TFT漏极和TFT源极,所述TFT漏极与所述数据线相连接,所述栅线和所述数据线之间限定有像素区域,所述像素区域内设有光电二极管,所述TFT源极与光电二极管相连接,其中,

所述栅线层由依次沉积的铝钕(AlNd)金属层和钼(Mo)金属层所形成;

所述数据线层由Mo金属层所形成。

一种X射线探测器,包括X射线源和探测装置,其中,所述检测装置包括本发明实施例提供的TFT探测基板。

一种TFT探测基板的制作方法,包括:

提供一基板;

在所述基板上依次沉积铝钕金属层和Mo金属层,通过构图工艺,形成栅线层,所述栅线层中包括栅线和与所述栅线连接的TFT栅极;

在形成有栅线层的基板上沉积Mo金属层,通过构图工艺,形成数据线层,所述数据线层中包括数据线,TFT漏极和TFT源极。

采用上述技术方案后,本发明实施例提供的TFT探测基板及其制作方法、X射线探测器,TFT探测基板的栅线层由AlNd和Mo金属形成,数据线层由Mo金属形成,相对于Cr,Mo是一种温和金属,对人体和动植物危害较小,因此,能够对生物和环境进行有效保护。另外,采用Mo还可以简化制作过程后续的副产物的处理过程,有效降低成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中一种TFT探测基板的剖面结构示意图;

图2为本发明实施例提供的TFT探测基板的剖面结构示意图;

图3为本发明实施例提供的TFT探测基板的另一种剖面结构示意图;

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