[发明专利]阵列基板及其形成方法有效
申请号: | 201010616900.0 | 申请日: | 2010-12-17 |
公开(公告)号: | CN102569186A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 周政旭 | 申请(专利权)人: | 奇美电子股份有限公司;群康科技(深圳)有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;G02F1/1362;G02F1/1368 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 骆希聪 |
地址: | 中国台湾新竹科学工*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 及其 形成 方法 | ||
技术领域
本发明是关于液晶显示器的工艺,尤其是关于其阵列基板的形成方法。
背景技术
目前制作液晶显示器的阵列基板一般需要多达四至五道的光刻工艺,即需四至五道掩模。若是要采用三道掩模工艺,则需利用举离(Lift-off)工艺。在举离工艺中,先形成光阻图案作为镀膜牺牲层。接着形成镀膜于光阻上及未被光阻图案覆盖的区域上,再将基板浸置于去光阻液。随着光阻图案去除,可一并将位于光阻图案上的镀膜剥离,达到节省掩模的工艺目的。然而一般TFT量产设备并不适合让含有光阻的基板进入沉积腔体进行工艺,且剥离后的镀膜亦容易回粘至基板阵列上形成缺陷。另一方面,光阻上的镀膜可能会悬浮于去光阻液中,造成去光阻液输送管线的塞管现象。
综上所述,阵列基板的三道掩模工艺目前亟需新的工艺方法,在不增加掩模数目的前提下取代现有的举离工艺。
发明内容
本发明一实施例提供一种阵列基板的形成方法,包括形成第一导电层于基板上;形成第一光阻层于第一导电层上;以第一多段式调整掩模进行光刻工艺,图案化第一光阻层以形成第一无光阻区域、第一薄层光阻图案、及第一厚层光阻图案;蚀刻对应第一无光阻区域的第一导电层,形成栅极、与栅极相连的栅极线、共通电极线、及底导线,其中第一薄层光阻图案位于栅极、栅极线、共通电极线、及底导线的走线区域上,且第一厚层光阻图案位于底导线的接触区域上;灰化第一薄层光阻图案,露出栅极、栅极线、共通电极线、及底导线的走线区域;选择性沉积绝缘层于基板、栅极、栅极线、共通电极线、及底导线的走线区域上;选择性沉积半导体层于绝缘层上;移除第一厚层光阻图案;以及形成第二导电层于半导体层与底导线的接触区域上。
本发明另一实施例提供一种阵列基板的形成方法,包括形成栅极、与栅极相连的栅极线、及共通电极线于基板上;沉积绝缘层于基板、栅极、栅极线、及共通电极线上;沉积半导体层于绝缘层上;沉积导电层于半导体层上;形成光阻层于导电层上;以多段式调整掩模进行光刻工艺,图案化光阻层以形成无光阻区域、薄层光阻图案、次厚层光阻图案、及厚层光阻图案;移除对应无光阻区域的导电层及半导体层,形成数据线、连接至数据线的导电图案、通道层、及上电极,其中数据线与栅极线垂直相交以定义像素区,通道层夹设于导电图案与栅极之间,且上电极覆盖部分共通电极线以定义储存电容;其中薄层光阻图案对应导电图案的中心部分,且第二次厚层光阻图案对应导电图案的两侧、数据线、及上电极;灰化薄层光阻图案,露出导电图案的中心部分;移除露出的导电图案的中心部分以形成源极/漏极,并露出栅极中心部分上的通道层,其中厚层光阻图案对应部分漏极及部分上电极;灰化次厚层光阻图案,露出源极/漏极、数据线、及上电极;选择性沉积保护层于厚层光阻图案以外的所有区域上;灰化厚层光阻图案,露出部分漏极与部分上电极;以及形成像素电极图案于该像素区的保护层上,且像素电极图案连接至露出的部分漏极与部分上电极。
本发明又一实施例提供一种阵列基板的形成方法,包括形成导电层于基板上;形成光阻层于导电层上;以多段式调整掩模进行光刻工艺,图案化光阻层以形成无光阻区域、薄层光阻图案、及厚层光阻图案;蚀刻对应无光阻区域的导电层,形成底导线,其中薄层光阻图案位于底导线的走线区域上,且厚层光阻图案位于底导线的接触区域上;灰化薄层光阻图案,露出底导线的走线区域;选择性沉积绝缘层于基板及底导线的走线区域上;选择性沉积半导体层于绝缘层上;移除厚层光阻图案,露出底导线的接触区域;形成顶导线于半导体层上,且顶导线连接至底导线的接触区域上;移除未被顶导线覆盖的半导体层;以及形成保护层于绝缘层与顶导线上。
本发明再一实施例提供一种阵列基板,包括底导线,位于基板上;绝缘层,位于底导线及基板上,且该绝缘层具有开口露出部分底导线;顶导线,位于绝缘层上且经由开口直接接触底导线;以及保护层,位于顶导线及基板上;其中顶导线与绝缘层之间夹设半导体层。
附图说明
为让本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂,以下结合附图对本发明的具体实施方式作详细说明,其中:
图1A-1C、3A-3H、5A、及5C-5G本发明一实施例中,形成阵列基板的显示区的工艺剖视图;
图1D、3I、及5B本发明一实施例中,形成阵列基板的显示区的工艺上视图;
图2A-2E及4A-4E本发明一实施例中,形成阵列基板的外围走线区的工艺剖视图;以及
图1E、图2F及4F本发明一实施例中,形成阵列基板的外围走线区的工艺剖视图。
主要元件符号说明:
A-A’、B-B’~音面线;
10~基板;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造