[发明专利]液晶显示装置的线路检测结构及检测方法

权利要求书

1.一种液晶显示装置的线路检测结构，所述液晶显示装置包括阵列基板，所述阵列基板包括显示区域和外围区域，在所述显示区域上设有扫描线、数据线和扫描线连接线，所述外围区域设置有线路检测结构，所述线路检测结构包括：

第一检测结构，用于检测所述阵列基板是否存在扫描线的线缺陷，包括第一短路棒、第一测试端子和第二短路棒、第二测试端子；所述第一短路棒与所述数据线通过过孔结构连接；所述第一测试端子与所述第一短路棒连接，提供测试信号至数据线；所述第二短路棒与所述扫描线连接线通过过孔结构连接；所述第二测试端子与所述第一短路棒连接，提供测试信号至扫描线连接线；

第二检测结构，用于确定所述扫描线的线缺陷的缺陷类型，包括第一控制线、第一控制开关、第一控制端子、第二控制线、第二控制开关、第二控制端子、第三短路棒和第三测试端子；所述第一控制线与所述第一控制开关和所述第一控制端子相连接，所述第一控制端子通过所述第一控制线提供控制信号至所述第一控制开关；所述第一控制开关与所述数据线和所述扫描线连接线相连接，控制所述数据线和所述扫描线连接线的通断；所述第二控制线与所述第二控制开关和所述第二控制端子相连接，所述第二控制端子通过所述第二控制线提供控制信号至所述第二控制开关；所述第二控制开关与所述扫描线连接线和所述第三短路棒连接，控制所述扫描线连接线和所述第三短路棒的通断；所述第三测试端子与所述第三短路棒连接，提供测试信号至所述扫描线连接线。

2.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，所述第一控制线和第二控制线分别设置于所述扫描线连接线两端。

3.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，所述第一控制开关和第二控制开关为薄膜晶体管。

4.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，所述第一控制线、第二控制线、第三短路棒与第一短路棒和第二短路棒位于同一金属层。

5.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，所述第一短路棒的数量为一个或多个。

6.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，所述过孔结构包括过孔和位于过孔内的导电介质。

7.根据权利要求6所述的线路检测结构，其特征在于，所述导电介质包括铟锡金属氧化物或铟锌金属氧化物。

8.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，所述扫描线存在的线缺陷的类型包括过孔结构损坏导致的线缺陷和线路断路导致的线缺陷。

9.一种应用于权利要求1至8中任一项线路检测结构的线路检测方法，其特征在于，所述线路检测方法包括：

在第二检测结构的第一控制端子和第二控制端子上施加用于断开的控制信号，使得第二检测结构中与第一控制线相连的第一控制开关和与第二控制线相连的第二控制开关处于断开状态；

在第一检测结构的第一测试端子上施加测试信号，用于判定与第一检测结构对应的扫描线是否存在线缺陷；

在第二检测结构的第一控制端子和第二控制端子上施加用于导通的控制信号，使得第二检测结构中与第一控制线相连的第一控制开关和与第二控制线相连的第二控制开关处于导通状态；

在第二检测结构的第二测试端子上施加测试信号，用于判定与第二检测结构对应的扫描线存在的线缺陷的类型。

10.根据权利要求9所述的线路检测方法，其特征在于，所述用于断开的控制信号为低电压信号，所述用于导通的控制信号为高电压信号。

11.根据权利要求9所述的线路检测方法，其特征在于，所述扫描线存在的线缺陷的类型包括过孔结构损坏导致的线缺陷和线路划伤导致的线缺陷。

12.根据权利要求1所述的线路检测结构，其特征在于，还包括扫描线线缺陷的修复结构，包括：第一修复线，位于外围区域，并与显示区域的扫描线平行，所述第一修复线与扫描线位于同一金属层；第二修复线，位于外围区域，并与显示区域的数据线平行，所述第二修复线与数据线位于同一金属层。

13.根据权利要求12所述的修复结构，其特征在于，所述第一修复线的材料与同一金属层的金属材料相同。

14.根据权利要求12所述的修复结构，其特征在于，所述第二修复线的材料与同一金属层的金属材料相同。