[发明专利]一种GaN基发光二极管的制作方法有效

专利信息
申请号: 201010622187.0 申请日: 2010-12-27
公开(公告)号: CN102544250A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 王立彬 申请(专利权)人: 同方光电科技有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100083 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 gan 发光二极管 制作方法
【权利要求书】:

1.一种GaN基发光二极管的制作方法,它的方法步骤为:

①在蓝宝石衬底(1)上外延氮化镓层(2),氮化镓层(2)包含N-GaN层、有源层和P-GaN层;

②研磨减薄蓝宝石衬底(1);

③在氮化镓层(2)表面采用电子束蒸发设备蒸镀ITO薄膜(3);

④在器件表面涂胶、曝光和显影形成掩蔽层,用ITO刻蚀液刻蚀出N型电极区域的ITO,然后采用ICP设备刻蚀出N型电极区域(4),去除光刻胶,在N2气氛中退火;

⑤用PECVD蒸镀SiO2钝化层(5);

⑥在器件表面涂胶、曝光和显影形成掩蔽层,用BOE腐蚀SiO2钝化层(5),用电子束蒸发设备蒸镀金属电极,剥离去胶,形成P-GaN层上的金属电极一(6)与N-GaN上的金属电极二(7),然后在N2气氛中退火;

⑦在器件上表面涂胶、曝光和显影形成掩蔽层,用ICP刻蚀工艺刻蚀切割道,露出蓝宝石衬底(1)的部分上表面;

⑧在蓝宝石衬底(1)底面进行激光划片,产生熔渣碎屑(8);

⑨将蓝宝石衬底(1)的底面向上放置于ICP设备中,进行ICP刻蚀,清除熔渣碎屑(8);

⑩最后进行裂片,形成单个发光二极管芯片。

2.根据权利要求1所述的GaN基发光二极管的制作方法,其特征在于,在完成外延工艺后,先做研磨工艺,然后做刻蚀、电极等工艺。

3.根据权利要求1或2所述的GaN基发光二极管的制作方法,其特征在于,所述蓝宝石衬底(1)的厚度研磨减薄至120微米至300微米。

4.根据权利要求1所述的GaN基发光二极管的制作方法,其特征在于,所述的激光划片产生的熔渣碎屑(8),采用ICP刻蚀方法清除。

5.根据权利要求1所述的GaN基发光二极管的制作方法,其特征在于,所述的刻蚀切割道,该刻蚀深度位置可以位于GaN外延层位置,可以位于蓝宝石衬底的上表面,也可以位于蓝宝石内的位置。

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