[发明专利]电性连接缺陷仿真测试方法及其系统

权利要求书

1.一种电性连接缺陷模拟测试方法，其特征在于包含下列步骤：

提供一待测组件，该待测组件包含多个接脚群组，各该等接脚群组包含多个信号接脚；

使一信号馈入装置传送一零频率信号至各该等信号接脚，使仿真一开路状态；

对各该等信号接脚进行一开路测试程序；

使该待测组件的该等接脚群组的该等信号接脚与一开关多组相连接；

控制该开关多组以使该等接脚群组其中之一的任二该等信号接脚进行电性连接，使模拟一短路状态；以及

相对电性连接的任二该等信号接脚进行一短路测试程序。

2.如权利要求1所述的电性连接缺陷模拟测试方法，其特征在于各该等接脚群组具有互异的逻辑电位。

3.如权利要求1所述的电性连接缺陷模拟测试方法，其特征在于该零频率信号为一直流信号或一三态(Tri-state)信号。

4.如权利要求1所述的电性连接缺陷模拟测试方法，其特征在于该信号馈入装置包含一探针以及一信号产生装置，该零频率信号由该信号产生装置借由该探针传送至各该等信号接脚。

5.如权利要求1所述的电性连接缺陷模拟测试方法，其特征在于该信号馈入装置为一边界扫瞄(Boundary Scan)芯片，与该待测电路板的各该等信号接脚相接，该零频率信号由该边界扫瞄芯片产生。

6.如权利要求1所述的电性连接缺陷模拟测试方法，其特征在于该开关多组更包含多个接脚驱动模块，控制该开关多组以使该等接脚群组其中之一的任二该等信号接脚进行电性连接步骤更包含使该等接脚驱动模块提供一仿真电源信号至电性连接的任二该等信号接脚其中之一，使模拟一电源短路状态。

7.如权利要求1所述的电性连接缺陷模拟测试方法，其特征在于该开关多组更包含多个接脚驱动模块，控制该开关多组以使该等接脚群组其中之一的任二该等信号接脚进行电性连接的步骤更包含使该等接脚驱动模块提供一仿真接地信号至电性连接的任二该等信号接脚其中之一，使模拟一接地短路状态。

8.一种电性连接缺陷仿真测试系统，其特征在于用以对一待测组件进行仿真测试，该待测组件包含多个接脚群组，各该等接脚群组包含多个信号接脚，该电性连接缺陷仿真测试系统包含：

一信号馈入装置，用以传送一零频率信号至各该等信号接脚，使仿真一开路状态；以及

一开关多组，用以与该待测组件的该等接脚群组的该等信号接脚相连接，且使该等接脚群组其中之一的任二该等信号接脚进行电性连接，使模拟一短路状态。

9.如权利要求8所述的电性连接缺陷仿真测试系统，其特征在于各该等接脚群组具有互异的逻辑电位。

10.如权利要求8所述的电性连接缺陷仿真测试系统，其特征在于该零频率信号为一直流信号或一三态信号。

11.如权利要求8所述的电性连接缺陷仿真测试系统，其特征在于该信号馈入装置包含一探针以及一信号产生装置，该零频率信号由该信号产生装置借由该探针传送至各该等信号接脚。

12.如权利要求8所述的电性连接缺陷仿真测试系统，其特征在于该信号馈入装置为一边界扫瞄芯片，与该待测电路板的各该等信号接脚相接，该零频率信号由该边界扫瞄芯片产生。

13.如权利要求8所述的电性连接缺陷仿真测试系统，其特征在于该开关多组更包含多个接脚驱动模块，提供一仿真电源信号至电性连接的任二该等信号接脚其中之一，使模拟一电源短路状态。

14.如权利要求8所述的电性连接缺陷仿真测试系统，其特征在于该开关多组更包含多个接脚驱动模块，提供一仿真接地信号至电性连接的任二该等信号接脚其中之一，使模拟一接地短路状态。