[发明专利]电性连接缺陷仿真测试方法及其系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种电路测试方法及系统，特别是涉及一种电性连接缺陷仿真测试方法及其系统。

背景技术

在电路测试的领域，往往需要进行「测试有效性」的验证。意即，测试人员必需在待测组件的接脚上，制造实际的电性连接缺陷，来模拟真正工艺上的缺失，以观察如TestJet、Boundary-Scan或是ToggleScan^TM等等测试技术是否可以将这些电性连接缺陷检测出。

但是要在待测组件进行实体上的仿真，需要先判断要施工的接脚是否适合施工而不会伤害到其它组件而影响仿真测试结果。在搜寻到适合的接脚后，需以破坏式的方法，来对接脚进行解焊或是割断，亦或对电路板上与待测组件的连接线进行割断以模拟开路的情形，因此将可能伤及待测组件、破坏电路板上的焊点，或是使电路板上的连接线断开而使待测组件或电路板无法再使用。而短路的模拟常需通过将两个以上的接脚焊接在一起，但是在模拟结束要解焊时，亦可能对待测组件或是电路板上的焊点造成破坏。再者，在现今的电路设计中，组件的接脚数目越来越多，势必无法一一进行测试，对于待测组件的仿真测试将无法全面性的进行。

因此，如何设计一个新的电性连接缺陷仿真测试方法及其系统，以克服上述的缺失，乃为此一业界亟待解决的问题。

由此可见，上述现有的电路测试在方法、产品结构及使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。因此如何能创设一种新的电性连接缺陷仿真测试方法及其系统，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。

发明内容

本发明的目的在于，克服现有的电路测试存在的缺陷，而提供一种新的电性连接缺陷仿真测试方法及其系统，所要解决的技术问题是使其在于不需要对电路的接脚进行实体连接状态的更动，改以非破坏性的模拟方式达到电性连接缺陷模拟测试的功效，避免对电路接脚的破坏，非常适于实用。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种电性连接缺陷模拟测试方法，包含下列步骤：提供一待测组件，该待测组件包含多个接脚群组，各该等接脚群组包含多个信号接脚；使一信号馈入装置传送一零频率信号至各该等信号接脚，使仿真一开路状态；对各该等信号接脚进行一开路测试程序；使该待测组件的该等接脚群组的该等信号接脚与一开关多组相连接；控制该开关多组以使该等接脚群组其中之一的任二该等信号接脚进行电性连接，使模拟一短路状态；以及相对电性连接的任二该等信号接脚进行一短路测试程序。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的电性连接缺陷模拟测试方法，其中所述的各该等接脚群组具有互异的逻辑电位。

前述的电性连接缺陷模拟测试方法，其中所述的该零频率信号为一直流信号或一三态(Tri-state)信号。

前述的电性连接缺陷模拟测试方法，其中所述的该信号馈入装置包含一探针以及一信号产生装置，该零频率信号由该信号产生装置借由该探针传送至各该等信号接脚。

前述的电性连接缺陷模拟测试方法，其中所述的该信号馈入装置为一边界扫瞄(Boundary Scan)芯片，与该待测电路板的各该等信号接脚相接，该零频率信号由该边界扫瞄芯片产生。

前述的电性连接缺陷模拟测试方法，其中所述的该开关多组更包含多个个接脚驱动模块，控制该开关多组以使该等接脚群组其中之一的任二该等信号接脚进行电性连接的步骤更包含使该等接脚驱动模块提供一仿真电源信号至电性连接的任二该等信号接脚其中之一，使模拟一电源短路状态。

前述的电性连接缺陷模拟测试方法，其中所述的该开关多组更包含多个个接脚驱动模块，控制该开关多组以使该等接脚群组其中之一的任二该等信号接脚进行电性连接的步骤更包含使该等接脚驱动模块提供一仿真接地信号至电性连接的任二该等信号接脚其中之一，使模拟一接地短路状态。

本发明的目的及解决其技术问题还采用以下技术方案来实现。依据本发明提出的一种电性连接缺陷仿真测试系统，用以对一待测组件进行仿真测试，该待测组件包含多个接脚群组，各该等接脚群组包含多个信号接脚，该电性连接缺陷仿真测试系统包含：一信号馈入装置，用以传送一零频率信号至各该等信号接脚，使仿真一开路状态；以及一开关多组，用以与该待测组件的该等接脚群组的该等信号接脚相连接，且使该等接脚群组其中之一的任二该等信号接脚进行电性连接，使模拟一短路状态。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。