[发明专利]用电感耦合等离子体发射光谱仪测定纯银中杂质的方法

权利要求书

1.一种用电感耦合等离子体发射光谱仪测定纯银中杂质的方法，其特征在于：选择硫酸溶解待测纯银样品，其后用盐酸沉淀溶液中存在的银离子，采用基体分离的方法测定高纯银中的痕量杂质元素。

2.根据权利要求1所述的用电感耦合等离子体发射光谱仪测定纯银中杂质的方法，其特征在于具体方法如下：

1)加入硫酸溶解待测纯银试样；

2)待试样完全溶解后，加盐酸，煮沸至澄清，冷却，分离试样的基体银；

3)沉淀细化；

4)补加10％的盐酸，用去离子水定容到刻度；

5)启动电感耦合等离子体发射光谱仪，打开分析控制软件，点击“点火”按钮，形成稳定的等离子炬焰，然后进行全波段扫描，完成光路校正后，选择进入数据控制程序，选择待测元素的谱线，设定曲线浓度值，依次浓度由低到高将标准曲线溶液进行测定，测定后即可在数据状态栏得出相关参数。

3.根据权利要求1所述的用电感耦合等离子体发射光谱仪测定纯银中杂质的方法，其特征在于：所述步骤3中的沉淀细化具体方法是把步骤2中得到的冷却液放入超声震荡仪中，震荡7分钟以上，冷却至室温后将试液过滤于100毫升容量瓶中，补加10％盐酸，用去离子水定容到刻度。

4.根据权利要求2所述的用电感耦合等离子体发射光谱仪测定纯银中杂质的分析方法，其特征在于：标准曲线溶液以10％的盐酸为介质，各元素Cu、Fe、Mn、Mg、Ca、Zn、La、Ni、Se、Te、Co、Be、Sb、As、Pb、Sn、Pd、Pt、Al、Ce、Ge、Si、In、Bi浓度分别为0.00～X.00μg/ml。

5.根据权利要求1所述的用电感耦合等离子体发射光谱仪测定纯银中杂质的分析方法，其特征在于：进行全波段扫描后，用10μg/ml的锰标液进行光路系统校正。

6.根据权利要求1所述的用电感耦合等离子体发射光谱仪测定纯银中杂质的分析方法，其特征在于：在万级洁净实验室中进行，加入的硫酸及盐酸均为优级纯试剂，所用去离子水为18.2兆欧级。