[发明专利]IZAO透明导电膜的制造方法无效

专利信息
申请号: 201019164051.7 申请日: 2010-02-02
公开(公告)号: CN102140623A 公开(公告)日: 2011-08-03
发明(设计)人: 曾鸿斌 申请(专利权)人: 深圳市海森应用材料有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/08
代理公司: 深圳市睿智专利事务所 44209 代理人: 陈鸿荫;郭文姬
地址: 518108 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: izao 透明 导电 制造 方法
【说明书】:

技术领域 本发明涉及一种透明导电膜的制造方法,特别是涉及IZAO(铟锌铝氧化物)透明导电膜的制造方法。

背景技术 众所周知,ITO氧化铟锡透明导电膜以其优良的光电性能广泛地用于信息显示领域,但也存在一些问题。一是室温或低温成膜电阻率与高温成膜电阻率相差很大;二是高温成膜是结晶态,结晶晶届会引起光散射,也影响膜表面平滑度,对液晶显示和有机发光显示OLED不利;三是蓝光波段透过率偏低,对某些应用、特别是对太阳能电池光电转换效率有不利影响。

发明内容 本发明要解决的技术问题是:针对现有ITO透明导电膜的不足,提供一种IZAO透明导电膜的制造方法,通过掺杂,解决高低温成膜电阻率相差太大的问题;在结构上形成非晶态,改善膜表面平滑度,减小由于结晶晶界引起的光散射;并且展宽光学能隙宽度,改善蓝光波段的透过率。

本发明解决所述技术问题可以通过采用以下技术方案来实现:

本发明的技术解决方案是:采用双阴极直流磁控同时溅射In2O3靶和ZAO靶,形成锌铝掺杂的IZAO膜;所述ZAO靶是在ZnO中掺杂Al2O3形成的陶瓷靶材,其中ZAO靶中Al2O3掺杂的重量比是2-4%,在双阴极靶溅射时,改变In2O3靶和ZAO靶的直流输入功率以改变IZAO膜的ZAO掺杂比例。

利用常规的直流磁控溅射技术,将三氧化二铟In2O3靶和锌铝氧化物ZAO靶做成两个小阴极(即双阴极)同时溅射,对In2O3掺杂形成铟锌铝氧化物IZAO膜。具体做法是一个阴极安装In2O3靶,另一个阴极安装ZAO靶,它们是紧密相邻的两个小阴极靶;当分别施加直流电源后,In2O3靶和ZAO靶会同时溅射出In2O3和ZAO原子团或分子团,沉积在基材上形成ZAO掺杂的IZAO膜。掺AL2O3的目的是展宽光学能隙,同时也是为了使ZAO靶成为导电性氧化物,以便于直流溅射。

所述IZAO透明导电膜的制造方法,所述IZAO透明导电膜掺杂的重量比优选3%。

所述IZAO透明导电膜的制造方法,In2O3靶和ZAO靶的直流输入功率比为10∶4时,得到In2O3和ZAO在IZAO膜中的重量比为10∶3,此时IZAO膜的电阻率最低。

同现有技术相比较,本发明的技术效果在于:解决高低温成膜电阻率相差大的问题,通过使用本发明方法制成的IZAO透明导电膜是非晶结构,改善了导电膜表面平滑度,减小了由于结晶晶界引起的光散射,展宽了光学能隙,改善了蓝光波段的透过率。

附图说明

图1是本发明采用的双阴极溅射靶示意图。

1-直流磁控溅射阴极                2-In2O3直流磁控溅射溅射靶

3-ZAO直流磁控溅射靶               4-直流磁控溅射阴极

5-ZAO靶直流电源输入               6-In2O3靶直流电源输入

7-永磁体                          8-磁体极靴

9-屏蔽板

具体实施方式 以下结合附图所示之优选实施例作进一步详述。

参看图1,本实施例采用双阴极即直流磁控溅射阴极1、4,在双阴极1、4上安装In2O3靶2和ZAO靶3,由ZAO靶直流电源输入5和In2O3靶直流电源输入6分别给In2O3靶2和ZAO靶3引入直流电源功率。

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