[实用新型]引线框架排列对齐装置有效
申请号: | 201020032749.1 | 申请日: | 2010-01-05 |
公开(公告)号: | CN201608171U | 公开(公告)日: | 2010-10-13 |
发明(设计)人: | 吕海波;王振荣;陈概礼;王洪 | 申请(专利权)人: | 上海新阳半导体材料股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68 |
代理公司: | 上海脱颖律师事务所 31259 | 代理人: | 李强 |
地址: | 201616 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 引线 框架 排列 对齐 装置 | ||
1.引线框架排列对齐装置,其特征在于,包括基板;基板上设置有多道平行排列的凹槽。
2.根据权利要求1所述的引线框架排列对齐装置,其特征在于,沿凹槽长度方向,每道凹槽的至少一条边界与其它凹槽的至少一条边界成直线。
3.根据权利要求1所述的引线框架排列对齐装置,其特征在于,所述基板上设置有挡块,所述挡块与凹槽垂直。
4.根据权利要求1所述的引线框架排列对齐装置,其特征在于,所述凹槽两侧分别设置有支撑块。
5.根据权利要求1所述的引线框架排列对齐装置,其特征在于,沿长度方向,凹槽延伸至基板边缘。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造