[实用新型]一种非接触集成电路IC装置有效

专利信息
申请号: 201020101720.4 申请日: 2010-01-26
公开(公告)号: CN201556227U 公开(公告)日: 2010-08-18
发明(设计)人: 沈恒 申请(专利权)人: 北京握奇数据系统有限公司
主分类号: G06K19/077 分类号: G06K19/077;G06K19/04
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 郭润湘
地址: 100015 北京市朝阳区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 接触 集成电路 ic 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及计算机领域,尤其涉及一种集成电路IC装置。

背景技术

标准卡为国际统一尺寸的卡品,它的尺寸是85.60mm×54.98mm×0.76mm。近年来,非接触CPU(Central Processing Unit,中央处理器)卡得到了大范围的实施与推广,应用日益广泛。

由于个性的需求,人们对于卡片的尺寸有了更高的要求,希望卡片的尺寸更小以方便携带,因此出现了不少形形色色的卡片,此类卡称之为异形卡。

目前异型CPU卡通常都采用小尺寸设计,一般比标准卡小得多,面积通常不会超过标准卡的三分之一,这样的小体积设计虽然方便用户携带,但卡内天线的面积随之减小,使得卡片的工作性能随之降低。

实用新型内容

有鉴于此,本实用新型实施例提供了一种集成电路IC装置,根据本实用新型提供的IC装置,方便用户携带以及使用,并且能够满足标准卡完成的功能以及性能要求。

本实用新型实施例,提供了一种集成电路IC装置,包括:

集成电路IC芯片;以及

与所述IC芯片连接的天线,所述天线由一根天线按照设定的封闭形状沿垂直方向绕设定圈形成;以及

封装所述IC芯片以及所述天线的外壳。

通过本实用新型的技术方案提供的IC装置,包括集成电路IC芯片;以及与该IC芯片连接的天线,其中,该天线由一根天线按照设定的封闭形状沿垂直方向绕设定圈形成;以及封装IC芯片以及天线的外壳。根据该技术方案,可以灵活设计IC装置的形状以方便用户使用和携带,并且可以根据标准卡的参数要求设置天线绕圈时的形状及圈数,从而能够满足标准卡完成的功能以及性能要求。

本实用新型的其它特点和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本实用新型而了解。本实用新型的目的和其它优点可通过在所写的说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

图1为本实用新型实施例1提供的IC装置第一结构图;

图2为本实用新型实施例1提供的IC装置第二结构图;

图3为本实用新型实施例1提供的IC装置第三结构图;

图4为本实用新型实施例1提供的外壳103中基槽的示意图;

图5为本实用新型实施例1提供的外壳103中基槽盖的示意图;

图6为本实用新型实施例2提供的IC装置第一结构图;

图7为本实用新型实施例2提供的IC装置第二结构图;

图8为本实用新型实施例2提供的IC装置第三结构图;

图9为本实用新型实施例2提供的外壳103中基槽的示意图;

图10为本实用新型实施例2提供的外壳103中基槽盖的示意图;

图11为本实用新型实施例3提供的IC装置的结构图;

图12为本实用新型实施例3提供的外壳103中基槽的示意图;

图13为本实用新型实施例提供的天线沿垂直方向绕圈的效果图。

具体实施方式

本实用新型实施例为了实现IC装置方便用户携带以及使用,并且能够满足标准卡完成的功能以及性能要求的目的,提供了一种非接触集成电路IC装置,以下结合说明书附图对本实用新型的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。并且在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

本实用新型实施例提供的IC装置,包括:

IC(Integrated Circuit,集成电路)芯片;其中,该IC芯片可以为CPU芯片、Mifarel芯片等。

以及,

与IC芯片连接的天线,其中,该天线由一根天线按照设定的封闭形状沿垂直方向绕设定圈形成;

以及,

封装该IC芯片以及天线的外壳,可以采用镂空结构,也可以采用实体封闭结构,例如,当采用镂空结构时,例如,采用弧形如圆环、半圆环,或规则或不规则多边形结合的镂空结构,如正方形环、菱形环、或外部是圆,内部镂空为菱形等,或者可以和天线绕圈时的封闭形状匹配,实际应用中,可以通过该镂空结构将该IC装置套在手指上以方便携带;当采用实体封闭结构时,可直接采用两片能够固定IC芯片以及天线的外壳接合在一起,同理,该外壳形状可以弧形或者规则或不规则多边形,或和天线绕圈时的封闭形状匹配,例如,采用圆形、正方形等,此处不再一一列举,实际应用中,采用实体封闭结构的外壳能够减少制作该IC装置的复杂度。

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