[实用新型]全自动石英晶体振荡器测试机

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种电子器件的测试机，特别是涉及一种对SMD型石英晶体振荡器的性能进行自动检测的全自动石英晶体振荡器测试机，即CI测试机，其改进之处是将已有的半自动CI测试机改为全自动CI测试机。

背景技术

目前，通行的CI测试机多为半自动的CI测试机。使用这种CI测试机进行检测时，需要先将承放待测晶体振荡器或谐振器的托盘由人工安放在工作台的固定架上；再启动CI测试机，通过检测探针逐一进行检测；检测完毕后，再由人工将托盘取下，并人工向检测完毕的托盘中补充经检测合格的产品，以填补托盘中因剔除不合格品而产生的空位。

在已有的半自动CI测试机的工作过程中，检测供料托盘必须由人工安装，托盘安装速度慢，无法长时间供料；并且，必须由人工补充因剔除不良品而产生的空位，不但补充合格产品的速度慢，而且容易因人工填补时接触不当导致产品受损。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种能够自动运行检测SMD型石英晶体谐振荡器性能的测试机，即全自动CI测试机，以克服现有CI测试机工作速度慢、人工补充空位、且易导致产品受损的技术问题。

本实用新型的技术方案是：该全自动石英晶体振荡器测试机包括供给部、搬送部、测试部和工业控制计算机，其供给部由待测物品供给台、置于供给台之上用于承放待测物品的可移动容器、容器移动装置组成，其搬送部由大体上相互垂直的X向机械臂装置和Y向机械臂装置构成。

其中，所述可移动容器由一个提篮状容器及置于提篮状容器之中不同槽位内且可从提篮状容器的槽中推出的托盘组成，该托盘可为在提篮状容器内壁的多个槽位中分别叠放的多层托盘，所述容器移动装置由2个气缸、无杆气缸、电动缸组成。

所述Y向机械臂装置由第一交流电机、Y向机械臂、搬送台、前端固定位导向杆气缸和后端固定位导向气缸组成，X向机械臂装置由第二交流电机、X向机械臂、待测物品摄取装置组成；其测试部由不合格品收纳装置、测试台、测试装置、气动滑台、与测试台通过气路连接的两个真空压力开关组成。Y向机械臂装置的第一交流电机与Y向机械臂连接，搬送台装载在Y向机械臂上，前端固定位导向杆气缸和后端固定位导向气缸分别装载于搬送台上的前端固定位和后端固定位内，用于压紧托盘；所述X向机械臂装置的第二交流电机与X向机械臂连接，待测物品摄取装置装载于X向机械臂上。

所述待测物品摄取装置为气动吸取组。气动吸取组可由气动吸取组架台、真空压力开关、4个气动吸取装置、4个微型气缸组成，并且，4个气动吸取装置分别与4个微型气缸连接，4个微型气缸装载在气动吸取组架台上，真空压力开关通过气路与气动吸取装置连接。

所述不合格品收纳装置为2个不合格品丢弃盒。

所述测试装置由测试卡安装台及4个探针组成，并且，4个探针每两个一组安装在测试卡安装台上，其位置对应测试台上的测试位置；测试卡安装台装载于气动滑台上，工作时气动滑台使测试卡安装台移向测试台，前端探针能够刺向测试台上的产品。

本实用新型的优点是被检测产品一次供给量大，可长时间自动运行，并可以在测试被测产品是否合格的同时方便地自动排除不良品，并从其他托盘中取出合格产品填补空位，直至全部测试完；收料供料方便简单，只需将提篮提出或轻放在供给台，无固定装置，节省了人工装卡、卸卡操作的时间；减少了设备停机的次数，从而加快效率，循环时间仅0.75秒；操作安全可靠，可有效地防止人工操作可能对被测产品造成的损坏，保证了被测产品的质量。

附图说明

图1是CI测试机的俯视图；

图2是CI测试机的主视图；

图3是CI测试机气动吸取组部件方案二的右视图；

图4是CI测试机俯视图；

图5是CI测试机提篮状容器部件剖面图；

图6是CI测试机右试图；

图7是CI测试机气动吸取组部件方案一的右视图；

其中，1.第一气缸，2.供给台，3.提篮状容器，4提篮状容器.Y向机械臂，6.第一交流电机，7.搬送台后端固定位，8.X向机械臂，9.第二交流电机，10.第二气缸，11.测试卡安装台，12.探针，13.测试台，14.搬送台前端固定位，15.气动吸取组，16.无杆气缸，17.电缸，18.导向杆气缸，19.气动滑台，20.不良品收纳容器，21.工业控制计算机，22.气动吸取单元，23.微型气缸，24.导轨，25.检测部基座，26供给部，27搬送部，28.测试部，29.导向杆气缸，30.提篮固定位，31.提篮固定位，32.托盘。

具体实施方式

如图1、图2所示，本实用新型所述CI测试机包括以下具体实施方式：