[实用新型]基板检测设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及液晶显示测试技术，尤其涉及一种基板检测设备。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，简称TFT-LCD)的制造过程可以大致分为如下三个阶段：1)阵列基板制造工艺，即在一张较大的玻璃基板上形成若干独立的TFT像素阵列电路，每个像素阵列区对应一个液晶显示屏；2)成盒工艺，即在阵列基板上涂布液晶，覆盖彩色滤光片，拼合成LCD面板，并切割成独立的液晶显示屏；3)为液晶显示屏安装背光源，偏振片以及周边电路，形成完整的TFT-LCD显示模块。

其中，在阵列基板制造工艺中，玻璃基板上沉积形成TFT像素阵列电路后，需要采用检测设备进行TFT像素阵列电路的电学检测。图1为现有技术的基板检测设备对阵列基板进行电学检测的示意图。如图1所示，机器人先将玻璃基板1从取送口放入检测基台上，该玻璃基板1上形成有TFT像素阵列电路11，在玻璃基板1的周边沉积有从TFT像素阵列电路11引出的导线12；测试时，通过检测框架13上的测试探针14与导线12接触，向导线12中加入测试信号，以便控制TFT像素阵列电路11；检测部件15位于TFT像素阵列电路11的上方，当导线12中加入测试信号后，检测部件15在TFT像素阵列电路11的上方移动，以获取TFT像素阵列电路11中的信号，从而实现对TFT像素阵列电路11的电学检测。

如果玻璃基板1的利用率很高，即TFT像素阵列电路11在玻璃基板1上较为紧凑，那么导线12与TFT像素阵列电路11的距离就很近，容易导致检测部件15与检测框架13的撞击摩擦，导致检测部件15无法正常使用甚至损坏。另外，由于检测基台的不平整，还容易导致测试探针14未与导线12接触，测试信号无法通过测试探针14加入导线12，或者测试探针14与导线12间的压力过大，测试探针14损坏的问题。

实用新型内容

本实用新型提供一种基板检测设备，以防止检测部件与检测框架的撞击摩擦导致的检测部件的损坏。

本实用新型提供一种基板检测设备，包括：检测框架，设置于所述检测框架上的测试探针，所述测试探针的连接端与所述检测框架连接，所述测试探针的针头通过与待检测的玻璃基板周边的信号线接触向所述待检测的玻璃基板上形成的TFT像素阵列电路加入检测信号，以及在所述TFT像素阵列电路上方移动、对加入所述检测信号的所述TFT像素阵列电路进行电学检测的检测部件，所述测试探针朝向所述TFT像素阵列电路倾斜，与所述检测框架呈一锐角，用于增加所述检测部件与所述检测框架间的距离。

如上所述的基板检测设备，其中，所述测试探针的针头弯折成与所述待检测的玻璃基板平行的形状。

如上所述的基板检测设备，其中，还包括与所述检测框架相连接的探针套，所述测试探针套设于所述探针套内与所述检测框架连接。

如上所述的基板检测设备，其中，所述锐角为40-50度。

如上所述的基板检测设备，其中，在所述测试探针和所述检测框架呈所述锐角的一侧连接一升降部件，用于弹性适配所述测试探针与所述待检测的玻璃基板周边的所述信号线的接触。

如上所述的基板检测设备，其中，还包括：

设置于所述升降部件上方、所述检测框架上的位置传感器，用于输出所述检测框架与所述测试探针的针头间的垂直距离值；

警报装置，与所述位置传感器相连接，用于确定所述位置传感器输出的所述垂直距离值的大小范围，并当所述垂直距离值小于第一距离值或大于第二距离值时，发送警报信号；

其中，所述第一距离值为预设的所述测试探针与所述待检测的玻璃基板周边的信号线未接触的距离值，所述第二距离值为预设的所述测试探针与所述待检测的玻璃基板周边的信号线接触过压的距离值。

如上所述的基板检测设备，其中，还包括：

设置于所述升降部件上方、所述检测框架上的压力传感器，用于输出所述测试探针的针头与所述待检测的阵列基板上周边的所述信号线接触的压力值；

警报装置，与所述位置传感器相连接，用于确定所述压力传感器输出的所述压力值的大小范围，并当所述压力值小于第一压力值或大于第二压力值时，发送警报信号；

其中，所述第一压力值为预设的所述测试探针与所述待检测的玻璃基板周边的信号线未接触的压力值，所述第二压力值为预设的所述测试探针与所述待检测的玻璃基板周边的信号线接触过压的压力值。

如上所述的基板检测设备，其中，所述警报信号为指示灯信号或提示音信号。