[实用新型]一种MEMS压力敏感芯片有效
申请号: | 201020166950.9 | 申请日: | 2010-04-22 |
公开(公告)号: | CN201716136U | 公开(公告)日: | 2011-01-19 |
发明(设计)人: | 沈绍群;周刚;王树娟;郭玉刚 | 申请(专利权)人: | 无锡市纳微电子有限公司 |
主分类号: | G01L1/18 | 分类号: | G01L1/18 |
代理公司: | 无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙) 32227 | 代理人: | 顾朝瑞 |
地址: | 214028 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 mems 压力 敏感 芯片 | ||
技术领域
本实用新型涉及微电子机械系统(MEMS)压力传感器领域,具体为一种MEMS压力敏感芯片。
背景技术
基于微电子机械系统(MEMS)的微机械敏感器件以其体积小、成本低、结构简单、可与处理电路集成等优点得到广泛应用和迅速发展。
MEMS压力传感器,是微电子机械系统(MEMS)中最早的商业产品,由于MEMS压力敏感芯片具有输出信号大、信号处理简单等优点,已经得到了越来越广泛的应用,目前市场上的MEMS压力敏感芯片,其包括MEMS相对压力敏感芯片、MEMS绝对压力敏感芯片,其中MEMS绝对压力敏感芯片以真空做为基准,传感器内封装了一个真空腔,以这个真空腔里的真空为基准;MEMS相对压力敏感芯片底部的空腔可连通有一定压力的的接口,将该有一定压力的接口作为基准。
目前压力敏感芯片主要采用硅-玻璃键合的芯片,然而由于硅和玻璃的膨胀系数不匹配,受压力时其变形量不同,易造成压力敏感芯片的不稳定,从而导致其误差大、精度低。
实用新型内容
针对上述问题,本实用新型提供了一种MEMS压力敏感芯片,其能有效提高芯片的稳定性,其误差小、精度高。
其技术方案是这样的:
一种MEMS压力敏感芯片,其包括硅片、基底、敏感电阻排布区、敏感电阻排布区外部电气连接件,其特征在于:所述基底具体为衬底硅片,所述衬底硅片的上表面和下表面的中心部分均开有浅槽,所述衬底硅片的上表面为二氧化硅(SiO2)的氧化层,所述硅片的底面键合于所述衬底硅片的上表面。
其进一步特征在于:
所述硅片的正面排布有敏感电阻排布区、敏感电阻排布区外部电气连接件;
所述敏感电阻排布区内包括压敏电阻、P+连接、金属引线;
所述MEMS压力敏感芯片为MEMS相对压力敏感芯片,所述相对压力敏感芯片其通气孔贯穿所述衬底硅片;
所述通气孔位于所述浅槽的中心位置。
在本实用新型中,由于硅片的底面键合于所述衬底硅片的上表面,故上层硅片和底部的衬底硅片的材质均为硅,受力时,由于其膨胀系数相同,进而其变形量相同,故其能有效提高芯片的稳定性,其误差小、精度高。
附图说明
图1是MEMS绝对压力敏感芯片主视图的结构示意图,
图2是MEMS相对压力敏感芯片主视图的结构示意图。
具体实施方式
具体实施例一:MEMS绝对压力敏感芯片
其结构见图1:其包括硅片1、基底、敏感电阻排布区、敏感电阻排布区外部电气连接件(属于现有成熟技术,图中未画出),基底具体为衬底硅片2,衬底硅片2的上表面和下表面的中心部分均开有浅槽3,衬底硅片2的上表面为SiO2的氧化层4,硅片1的底面键合于衬底硅片2的上表面;硅片1正面依次涂布有二氧化硅(SiO2)的氧化层9和氮化硅层10,硅片1的正面排布有敏感电阻排布区、敏感电阻排布区外部电气连接件;敏感电阻排布区内包括压敏电阻5、P+连接6、金属引线7。
具体实施例二:MEMS相对压力敏感芯片
其结构见图2:其包括硅片1、基底、敏感电阻排布区、敏感电阻排布区外部电气连接件(属于现有成熟技术,图中未画出),基底具体为衬底硅片2,衬底硅片2的上表面和下表面的中心部分均开有浅槽3,衬底硅片2的上表面为SiO2的氧化层4,硅片1的底面键合于衬底硅片2的上表面;硅片1正面依次涂布有二氧化硅(SiO2)的氧化层9和氮化硅层10,硅片1的正面排布有敏感电阻排布区、敏感电阻排布区外部电气连接件;敏感电阻排布区内包括压敏电阻5、P+连接6、金属引线7;通气孔8贯穿衬底硅片2;通气孔8位于浅槽3的中心位置。
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