[实用新型]一种霍尔芯片磁通量测试装置有效
| 申请号： | 201020227824.X | 申请日： | 2010-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN201804094U | 公开（公告）日： | 2011-04-20 |
| 发明（设计）人： | 罗立权;杨连宏 | 申请（专利权）人： | 灿瑞半导体(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/07 | 分类号： | G01R33/07 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 邓琪 |
| 地址： | 200081 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 霍尔 芯片 磁通量 测试 装置 | ||
1.一种用于SOT23封装测试分选机的霍尔芯片磁通量测试装置(1)，其特征在于，所述装置(1)包括：
测试支架(9)；
固定在所述测试支架的上端的测试座(2)；
设置在所述测试座(2)中用于放置被测霍尔芯片的测试夹具(3)；
与所述测试夹具(3)电连接的多个金手指(5)；
位于所述金手指(5)上方的盖板(6)，所述金手指(5)固定在所述盖板(6)与所述测试座(2)之间；以及
绕在所述测试支架(9)上的线圈(4)。
2.根据权利要求1所述的霍尔芯片磁通量测试装置(1)，其特征在于，所述线圈(4)为单线圈。
3.根据权利要求2所述的霍尔芯片磁通量测试装置(1)，其特征在于，所述测试夹具(3)的高度与所述线圈(4)的上端表面齐平。
4.根据权利要求1所述的霍尔芯片磁通量测试装置(1)，其特征在于，所述测试支架(9)为铝制测试支架。
5.根据权利要求1所述的霍尔芯片磁通量测试装置(1)，其特征在于，所述测试夹具(3)为铜制测试夹具。
6.根据权利要求1所述的霍尔芯片磁通量测试装置(1)，其特征在于，所述测试座(2)为环氧树脂制成的测试座。
7.根据权利要求1所述的霍尔芯片磁通量测试装置(1)，其特征在于，所述盖板(6)为环氧树脂制成的盖板。
8.根据权利要求1所述的霍尔芯片磁通量测试装置(1)，其特征在于，所述测试座(2)通过玻璃螺丝(8)固定在所述测试支架(9)上。
9.根据权利要求1所述的霍尔芯片磁通量测试装置(1)，其特征在于，所述金手指(5)通过玻璃螺丝(7)固定在所述盖板(6)与所述测试座(2)之间。
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