[实用新型]一种集成电路芯片测试系统

权利要求书

1.一种集成电路芯片测试系统，包括芯片测试机和控制机，芯片测试机由机壳、测试机主板、功能板卡及芯片载板连接构成，测试机主板及功能板卡设置在机壳内并且功能板卡安装在测试机主板上，芯片载板安装在机壳表面并与测试机主板相连接，其特征在于：所述的功能板卡为具有PXI接口的PXI功能板卡，PXI功能板卡安装在测试机主板上设有的PXI插槽内。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片测试系统，其特征在于：所述的测试机主板上安装的PXI功能板卡包括数字I/O板卡和直流电源板卡，或者包括数字I/O板卡和参数测量单元板卡。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路芯片测试系统，其特征在于：所述的测试机主板上还安装如下PXI功能板卡的一种或多种：波形发生器板卡和数字化仪板卡。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片测试系统，其特征在于：所述的芯片载板与测试机主板通过Molex连接器连接在一起。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片测试系统，其特征在于：所述的控制机与芯片测试机通过串行通信方式连接在一起。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片测试系统，其特征在于：所述的控制机由安装有测控软件的计算机、显示器及键盘连接构成。

7.根据权利要求1至6任一项所述的一种集成电路芯片测试系统，其特征在于：芯片测试机和控制机安装在测试机架上，其具体安装方式为：在测试机架中部水平安装有一U形架，U形架的两端水平设有旋转轴并与芯片测试机安装在一起，计算机安装在测试机架的底座上，显示器及键盘安装在测试机架中部设有的水平托盘上。